[1]. Capacitance compensation on a double-barrel nanopipette for improving current detection of scanning ion conductance microscopy
Ultramicroscopy 273/ - 114149 （2025年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Futoshi Iwata, Naoto Fukuzawa, Hitoshi Inomata, Kenta Nakazawa, Toshi Nagata, Hideya Kawasaki, and Osamu Hoshi [DOI]
[2]. Spatial frequency domain imaging system using a scanning micro-mirror
Sens. Actuator A Phys. 387/ - 116421 （2025年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Kenta Nakazawa, Yu Feng, Koki Masuda, Keita Yasutomi, Shoji Kawahito, Futoshi Iwata, and Keiichiro Kagawa [DOI]
[3]. Development of an automatic frequency tracking electret vibration energy harvester
Jpn. J. Appl. Phys 63/12 - 126503 （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kirara Tsuboi, Kenta Nakazawa, Hiroshi Toshiyoshi, and Gen Hashiguchi [DOI]
[4]. Surface modification for steel rods based on atmospheric-pressure nitrogen plasma treatment at room temperature
Results Mater. 23/ 100612- （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Shoichi Kikuchi, Shotaro Saiki, Tatsuki Ohashi, and Kenta Nakazawa
[5]. Effect of atmospheric-pressure nitrogen plasma treatment at low temperature on fatigue properties of low-alloy steels
Mater. Lett. 371/ 136956- （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Shoichi Kikuchi, Shotaro Saiki, and Kenta Nakazawa [DOI]
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[1]. 大気圧プラズマジェ ット照射可能な走査 型ナノピペットプロ ーブ顕微鏡を用いた 表面微細加工の精度 向上
2025年度精密工学会春季学術講演会 （2025年3月19日） 招待講演以外
[発表者]江角祥也，中澤謙太，岩田 太
[備考] E88，千葉工業大学，2025年3月19日
[2]. 大気圧プラズマ照射可能な走査型ナノピペットプローブ顕微 鏡を用いた表面微細加工の加工再現性の向上
第24回 日本表面真空学会中部支部学術講演会 （2024年12月14日） 招待講演以外
[発表者]江角 祥也, 中澤 謙太 , 岩田 太
[備考] 名古屋大学 2024.12.14
[3]. Stabilization of Laser-Assisted Electrophoretic Deposition by Beam Spot Monitoring
第24回 日本表面真空学会中部支部学術講演会 （2024年12月14日） 招待講演以外
[発表者]D. Naresh, K. Nakazawa, F. Iwata
[備考] 名古屋大学 2024.12.14
[4]. Effect of oxygen addition on fine processing using a nanopipette probe capable of localizing inductively coupled atmospheric pressure plasma
32nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM32) （2024年11月19日） 招待講演以外
[発表者]S. Esumi, K. Nakazawa, F. Iwata
[備考] 発表番号9P-13 2024.11.18-20 ホテルモントレエーデルホフ札幌
[5]. Improvement response characteristics of bias modulation mode scanning ion conductance microscopy with capacitance compensation pipette
32nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM32) （2024年11月19日） 招待講演以外
[発表者]I. Inomata, K. Nakazawa, T. Nagata, H. Kawasaki, O. Hoshi, F. Iwata
[備考] 発表番号9P-23 2024.11.18-20 ホテルモントレエーデルホフ札幌
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[1]. 機械学習を駆使した大気圧プラズマジェット微細加工システム （ 2025年4月 ～ 2028年3月 ） 基盤研究(C) 代表
[2]. インプロセス制御した大気圧プラズマジェット5軸加工法の開発とMEMSへの応用 （ 2022年4月 ～ 2025年3月 ） 若手研究 代表
[3]. 広視野生体定量イメージングに向けたコンピュテーショナルCMOSイメージセンサ （ 2021年4月 ～ 2024年3月 ） 基盤研究(A) 分担
[4]. レーザー支援電気泳動堆積およびプラズモン加熱焼結による超微細立体造形法の開発 （ 2020年4月 ～ 2023年3月 ） 基盤研究(B) 分担
[5]. 大気圧プラズマジェットの高精度位置決めによる自由曲面微細加工法 （ 2019年4月 ～ 2021年3月 ） 若手研究 代表
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[1]. （2021年10月 - 2024年3月 ) [提供機関] 科学技術振興機構 [制度名] 戦略的創造研究推進事業ACT-X [担当区分] 研究代表者
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[1]. ベストプレゼンテーション賞 （2024年11月)
[受賞者] 中澤謙太 [授与機関] 2024年度精密工学会秋季大会学術講演会
[2]. 優秀論文賞 （2024年5月)
[受賞者] 中澤謙太 [授与機関] マザック財団
[3]. Young Researcher Award （2023年11月)
[受賞者] Kenta Nakazawa [授与機関] The 10th International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN 2023)
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[1]. エッチング装置及びエッチング方法 [出願番号] 2023-027515 (2023年2月24日)
[2]. 窒化処理方法及び窒化処理装置 [出願番号] 2022-182545 (2022年11月15日) |
[1]. The 20th International Conference on Precision Engineering (ICPE2024) （2024年10月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] 仙台
[備考] Program Committee
[2]. International Conference on Optical MEMS and Nanophotonics 2024 （2024年7月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] San Sebastian, Spain
[備考] Technical Program Committee
[3]. 第40回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム （2023年11月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] 熊本
[備考] 実行委員会委員（若手企画主担当）
[4]. 第39回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム （2022年11月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] 徳島
[備考] 実行委員会委員（若手企画副担当）
[5]. 2022 JSME-IIP/ASME-ISPS Joint Conference on Micromechatronics for Information and Precision Equipment （2022年8月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] Nagoya, Japan
[備考] Session organizer
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[1]. 精密工学会アフィリエイト （2022年4月 )
[備考] 2022年3月認定
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