[1]. In-process sintering of Au nanoparticles deposited in laser-assisted electrophoretic deposition
Opt. Express 31/25 41726-41739 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Yuki Yoshimoto, Kenta Nakazawa, Makoto Ishikawa, Atsushi Ono, and Futoshi Iwata [DOI]
[2]. In-process monitoring of atmospheric pressure plasma jet etching by a confocal laser displacement sensor
Microsys. Technol. 29/ 1107-1116 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Takeru Tomita, Kenta Nakazawa, Takahiro Hiraoka, Yuichi Otsuka, Kensuke Nakamura, and Futoshi Iwata [DOI]
[3]. Scanning ion conductance microscope with a capacitance-compensated current source amplifier
Rev. Sci. Instrum. 94/7 073705- （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kenta Nakazawa, Teruki Tsukamoto, and Futoshi Iwata [DOI]
[4]. Effect of grain size on fatigue limit in CrMnFeCoNi high-entropy alloy fabricated by spark plasma sintering under four-point bending
Materials Science and Engineering A 857/ 144121- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] K. Fujita, K. Nakazawa, H. Fujiwara and S. Kikuchi [DOI]
[5]. Local oxynitriding of AZ31 magnesium alloy by atmospheric-pressure plasma treatment at room temperature
J. Magnes. Alloy. 10/7 1878-1886 （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kenta Nakazawa, Tatsuki Ohashi, Shotaro Saiki, and Shoichi Kikuchi [DOI]
[6]. Effect of a heterogeneous nitrogen diffusion phase on four-point bending fatigue properties in commercially pure titanium
Materials Transactions 63/7 1046-1054 （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Shoichi Kikuchi, Shiori Suzuki, Hideaki Ito, Keisuke Fujita, Kenta Nakazawa [DOI]
[7]. Imaging of an electret film fabricated on a micro-machined energy harvester by a Kelvin probe force microscope
IEEE Trans. Instrum. Meas. 71/ 4501907- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Kenta Nakazawa, Kengo Fukazawa, Takeshi Uruma, Gen Hashiguchi, and Futoshi Iwata [DOI]
[8]. Sub-micrometer plasma-enhanced chemical vapor deposition using an atmospheric pressure plasma jet localized by a nanopipette scanning probe microscope
J. Micromech. Microeng. 32/1 015006- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Sho Yamamoto, Kenta Nakazawa, Akihisa Ogino, and Futoshi Iwata [DOI]
[9]. Additive manufacturing of metal micro-ring and tube by laser assisted electrophoretic deposition with Laguerre-Gaussian beam
Nanomanufacturing and Metrology 4/4 271-277 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Kenta Nakazawa, Syunya Ozawa, and Futoshi Iwata [DOI]
[10]. Micromachining of polymers using atmospheric pressure inductively coupled helium plasma localized by a scanning nanopipette probe microscope
J. Micromech. Microeng. 31/6 065008- （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Shun Toda, Kenta Nakazawa, Akihisa Ogino, Masaru Shimomura, and Fuoshi Iwata [DOI]
[11]. Combined effects of TiB volume fraction and orientation on four-point bending fatigue properties of TiB-reinforced Ti-3Al-2.5V composite
Materials Transactions 62/7 - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] H. Hirai, H. Kurita, S. Gourdet, K. Nakazawa, S. Kikuchi [DOI]
[12]. Atmospheric He/O2 plasma jet fine etching with a scanning probe microscope
AIP Adv. 10/9 095103- （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kenta Nakazawa, Sho Yamamoto, Ei Nakagawa, Akihisa Ogino, Masaru Shimomura, and Futoshi Iwata [備考] Editor's Pick
[DOI]
[13]. Effect of TiB orientation on four-point bending fatigue properties of TiB-rein-forced Ti-3Al-2.5V alloy treated with heat extrusion
Engineering Fracture Mechanics 238/ 107284- （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Hideyuki Hirai, Hiroki Kurita, Sophie Gourdet, Keisuke Fujita, Kenta Nakazawa, Shoichi Kikuchi [DOI]
[14]. Local Electroplating Deposition for Free-standing Micropillars Using a Bias-Modulated Ion Conductance Microscope
Microsys. Technol. 26/ 1333-1342 （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kenta Nakazawa, Masayoshi Yoshioka, Yusuke Mizutani, Tatsuo Ushiki, and Futoshi Iwata [DOI]
[15]. Development of atomic force microscopy combined with scanning electron microscopy for investigating electronic devices
AIP Adv. 9/11 115011- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Takeshi Uruma, Chiaki Tsunemitsu, Katsuki Terao, Kenta Nakazawa, Nobuo Satoh, Hidekazu Yamamoto, and Futoshi Iwata [DOI]
[16]. Micropillar fabrication based on local electrophoretic deposition using a scanning ion conductance microscope with a theta nanopipette
Jpn. J. Appl. Phys. 58/4 046503- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Masayoshi Yoshioka, Yusuke Mizutani, Tatsuo Ushiki, Kenta Nakazawa , and Futoshi Iwata [DOI]
[17]. Confocal laser displacement sensor using a micro-machined varifocal mirror
Appl. Opt. 56/24 pp. 6911-6916 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Kenta Nakazawa, Takashi Sasaki,Hiromasa Furuta,Jiro Kamiya,Hideki Sasaki,Kazuhiro Hane [DOI]
[18]. Varifocal Scanner Using Wafer Bonding
J. Microelectromech. Syst. 26/2 pp. 440-447 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Kenta Nakazawa, Takashi Sasaki,Hiromasa Furuta,Jiro Kamiya,Toshikazu Kamiya,Kazuhiro Hane [URL] [DOI]
[19]. Resonant Varifocal Micromirror with Piezoresistive Focus Sensor
Micromachines 7/4 (xxx) - (zzz) （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Kenta Nakazawa, Takashi Sasaki,Hiromasa Furuta,Jiro Kamiya,Hideki Sasaki,Kazuhiro Hane [備考] Feature paper
[URL] [DOI]
[20]. 高面精度共振型焦点可変ミラー
電気学会論文誌E 135/5 pp. 165-170 （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 中澤 謙太, 佐々木敬, 羽根一博 [URL] [DOI]
[21]. 機械共振による変位拡大を利用した焦点可変ミラーの基礎特性
電気学会論文誌E 134/8 pp. 253-257 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 佐々木敬 , 佐藤大紀, 中澤 謙太, 羽根一博 [DOI] |