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Researcher DataBase - Personal Information : NIWAYAMA Masatsugu

Patents, etc.

【Patents, etc.】
[1]. 測定感度算出方法、測定感度算出装置、測定感度算出プログラム、及び光学的測定装置 [Application Number] 特願2020-161401 (2020/9/25)
[2]. 光学的測定装置、光学的測定方法、及び光学的測定プログラム [Application Number] 2016-158031 (2016/8/10)
[3]. 硬膜下センサ [Application Number] 2014-107467 (2014/5/23) [Patent Number] 第6296606号 (2018/3/2)
[4]. 一酸化炭素中毒治療用カテーテル [Application Number] 2013-235804 (2013/11/14)
[Notes] 出願人:聖マリアンナ医科大学
[5]. 触診用近赤外酸素濃度センサ [Application Number] 2013-109604 (2013/5/24) [Patent Number] 第6344725号 (2018/6/1)
[6]. 光学的測定装置 [Application Number] 2012054473 (2012/2/23)
[Notes] 登録番号(*)
[7]. 光学的測定装置 [Application Number] 2011-37444 (2011/2/23) [Patent Number] 特許第5966135号 (2016/7/15)
[Notes] 光を用いて、浅い部位の状態を考慮して、深部の光学的性質を精度良く測定する手法に関する 
[8]. 光学的測定装置,光学的測定方法,及び光学的測定プログラムを格納した記憶媒体 [Application Number] PCT061108 (2007/5/31) [Patent Number] 特許第5062698号 (2012/8/17)
[Notes] 対象物に光を照射し,後方へ戻る光の空間的な強度分布に着目し,深部の情報を精度よく得る手法を開発した.
[9]. 光学的測定装置,光学的測定方法,及び光学的測定プログラムを格納した記憶媒体 [Application Number] PCT061108 (2007/5/31) [Patent Number] 中国特許登録CN101454654B (2011/4/6)
[Notes] 対象物に光を照射し,後方へ戻る光の空間的な強度分布に着目し,深部の情報を精度よく得る手法を開発した.
[10]. 光学的測定装置,光学的測定方法,及び光学的測定プログラムを格納した記憶媒体 [Application Number] PCT061108 (2007/5/31) [Patent Number] 韓国登録第10-1041727号 (2011/6/1)
[Notes] 対象物に光を照射し,後方へ戻る光の空間的な強度分布に着目し,深部の情報を精度よく得る手法を開発した.
[11]. 光学的測定装置,光学的測定方法,及び光学的測定プログラムを格納した記憶媒体 [Application Number] PCT061108 (2007/5/31) [Patent Number] European Patent 2034294 (2011/9/14)
[Notes] 対象物に光を照射し,後方へ戻る光の空間的な強度分布に着目し,深部の情報を精度よく得る手法を開発した.
[12]. 光学的測定装置,光学的測定方法,及び光学的測定プログラムを格納した記憶媒体 [Application Number] PCT061108 (2007/5/31) [Patent Number] United States Patent登録US8369914B2 (2013/2/5)
[Notes] 対象物に光を照射し,後方へ戻る光の空間的な強度分布に着目し,深部の情報を精度よく得る手法を開発した.
[13]. 自己混合レーザを用いる3次元計測内視鏡 [Application Number] 2005345210 (2005/11/30)
[Notes] 開放特許情報番号(L2008005577)