[1]. Contrast Enhancement of SEM Image using Photoelectric Effect under UV LED Irradiation
Applied Sciences 15/24 - 13250 （2025年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Lukita Sari Ikhsan, Yu Masuda, Maciej Kretkowski, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata [備考] Discussion
[DOI]
[2]. Optimization of Coating Strategies and Evaluating Performance of NaGdF4:Yb,Er Upconversion Films on Silicon Nitride Membrane for Electron Beam Excitation-Assisted Optical Microscope toward High-Resolution Bioimaging Applications
ACS Applied Optical Materials / - （2025年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Santhana Vedi, Kei Hosomi, Maciej Kretkowski, Yu Masuda, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata, Muthukaruppan Alagar, SubbaRao Tadury Madhukar, Thangaraju Dheivasigamani [DOI]
[3]. Silicon Plasmonics for Enhanced Responsivity of Silicon Photodetectors in Deep-Ultraviolet Region
Physical Review Letters 134/22 226901-226905 （2025年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Yu-ichiro Tanaka, Atsushi Ono, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata [DOI]
[4]. Promising transition metal molybdate (TMM) single phase microstructures for asymmetric supercapacitor and photocatalytic applications
Ceramics International 50/24 55865-55878 （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Priyadharshini Shanmugam, Kei Hosomi, Ramesh Rajendran, Balaji Krishnasamy, Maciej Kretkowski, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata, Thangaraju Dheivasigamani [DOI]
[5]. Fast Sample Switching Mechanism for Atmospheric Scanning Electron Microscopy and Electron Beam Irradiation Systems of Living Cells
Acta Phys. Pol. A 146/4 382- （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] M. Kretkowski, K. Hosomi, H. Futamata, W. Inami, Y. Kawata [DOI]
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[1]. 機械工学実験指導書
静岡大学工学部機械工学科 （2014年）
[著書の別]著書（教育）
[単著・共著・編著等の別] 共著
[著者]居波 渉,本澤 政明,松井 信,清水 昌幸,藤井 朋之,臼杵 深,寺林 賢司,静 弘生
[備考] 光顕微計測の部分を担当
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[1]. 電子線励起アシスト光学顕微鏡によるタンパク質ナノ結晶のラベルフリー高空間分解能イメージング
OPJ2025 - Optics & Photonics Japan 2025 （2025年12月9日） 招待講演以外
[発表者]益田 有，Krishna Prasad Khakurel，細見 圭，居波 渉，川田 善正
[備考] 主催団体名：日本光学会
開催場所：あわぎんホール（徳島市）
会期：2025年12月9日（火）〜12月11日（木）
発表日：12月9日
発表形式：ポスター
[2]. シリコンプラズモニクスによる深紫外感度向上技術
第86回 応用物理学会 秋季学術研究会 （2025年9月10日） 招待講演以外
[発表者]小野篤史, 田中悠一朗, 居波渉, 川田善正
[備考] 名城大学 天白キャンパス&オンライン, 公益社団法人 応用物理学会
会期：9月7日 - 10日
発表形式：ポスター
発表日：9月10日
[3]. 高空間分解能蛍光イメージング用Cdフリー量子ドットの合成
第86回応用物理学会秋季学術講演会 （2025年9月10日） 招待講演以外
[発表者]細見 圭、山崎 峻平、益田 有、Maciej Kretkowski、居波 渉、川田 善正
[備考] 名城大学 天白キャンパス&オンライン, 公益社団法人 応用物理学会
会期：9月7日 - 10日
発表形式：ポスター
発表日：9月10日
[4]. 電子線励起プローブを用いた高空間分解能顕微技術とその応用
第86回応用物理学会秋季学術講演会 （2025年9月7日） 招待講演以外
[発表者]益田 有、居波 渉、川田 善正
[備考] 名城大学 天白キャンパス&オンライン, 公益社団法人 応用物理学会
会期：9月7日 - 10日
発表形式：口頭
発表日：9月7日
[5]. Development of a Super-Resolution Microscope Utilizing Functional Thin Films Excited by an Electron Beam
Optics and Photonics Congress 2025 （2025年7月9日） 招待講演
[発表者]Wataru Inami, Yoshimasa Kawata
[備考] 開催場所：ICC Jeju, Korea
主催団体：OSK
開催期間：7月６日 - ９日
発表日：7月９日
発表形式：口頭
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[1]. 電子線直接照射によるナノ領域の生細胞刺激法の開発 （ 2020年4月 ～ 2023年3月 ） 基盤研究(B) 分担
[2]. 電子線励起超解像顕微鏡における蛍光薄膜の厚さの最適化とコントラスト増強 （ 2019年4月 ～ 2022年3月 ） 基盤研究(C) 代表
[3]. 単一イオンチャンネル観察のための電子線検出型イオンセンサーの開発 （ 2018年4月 ～ 2022年3月 ） 挑戦的研究（萌芽） 分担
[4]. 微分位相コントラスト超解像顕微鏡の開発とその応用 （ 2016年4月 ～ 2019年3月 ） 基盤研究(C) 代表
[5]. ファインバブル解析のための電子線励起発光顕微鏡の開発とその応用展開 （ 2016年4月 ～ 2019年3月 ） 基盤研究(B) 分担
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[1]. 超解像位相差顕微鏡の開発 （2016年4月 - 2017年3月 ) [提供機関] 公益財団法人上原記念生命科学財団 [制度名] 研究助成 [担当区分] 研究代表者
[2]. 無染色の細胞を高コントラストに観察可能な超解像顕微鏡の開発 （2016年4月 - 2017年3月 ) [提供機関] 公益財団法人豊田理化学研究所 [制度名] 豊田理研スカラー [担当区分] 研究代表者
[3]. 電子線検出によるイオン分布のナノイメージセンシングシステム （2015年4月 - 2021年3月 ) [提供機関] JST [制度名] A-STEP ステージⅠ（戦略テーマ重点タイプ） [担当区分] 研究分担者
[4]. 蛍光寿命測定による細胞内イオン濃度の定量測定法の開発 （2010年4月 ) [提供機関] (財)日本科学協会 [制度名] 笹川科学研究助成 [担当区分] 研究代表者
[5]. 電子線励起ナノ光源薄膜の作製 （2009年11月 ) [提供機関] (財)住友財団 [制度名] 基礎科学研究助成 [担当区分] 研究代表者
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[1]. 日本光学会「2017年 日本の光学研究」の一つに選ばれた （2018年2月)
[授与機関] 日本光学会
[備考] 団体：日本光学会
[2]. 高柳研究奨励賞 （2014年12月)
[授与機関] 財団法人浜松電子工学奨励会
「電子線励起アシスト光学顕微鏡の開発」
[備考] 財団法人浜松電子工学奨励会
「電子線励起アシスト光学顕微鏡の開発」
[3]. ISOM'14 Workshop Best Poster Award （2014年12月)
[授与機関] ISOM
[備考] 光メモリ国際シンポジウム（ISOM）
学生の受賞です。
[4]. Best Paper Award （2014年9月)
[授与機関] IEEE Photonics Society
[備考] IEEE Photonics Society
国際学会5th International Conference on Photonics 2014での受賞
M. Kawashima, A. Ono, W. Inami, Y. Kawata
[5]. Best Paper Award （2014年9月)
[授与機関] IEEE Photonics Society
[備考] IEEE Photonics Society
国際学会5th International Conference on Photonics 2014での受賞
Y. Masuda, W. Inami, Y. Nawa, Y.Kawata
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[1]. TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE [出願番号] 13/013,919 (2011年1月26日) [特許番号] US8,431,897 B2 (2013年4月30日)
[2]. 透過型電子顕微鏡 [出願番号] 2010-26242 (2010年2月9日) [特許番号] 5529573 (2014年6月25日)
[備考] 2010-26242
[3]. 線分析機能の備える電子顕微鏡 [出願番号] 2009-104870 (2009年4月23日) [特許番号] 5491763 (2014年5月14日)
[備考] 2009-104870
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[1]. Microoptics Conference 2021 （2021年11月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] アクトシティー浜松
[備考] 現地実行委員
[2]. BISC18 （2018年1月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] パシフィコ横浜
[備考] プログラムコミッティ
[3]. BISC17 （2017年4月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] パシフィコ横浜
[備考] プログラムコミッティ
[4]. 日本機械学会東海支部第66期総会・講演会 （2017年3月)
[役割] 責任者以外 [開催場所] 静岡大学浜松キャンパス
[備考] クロークや休憩室の管理です．３月13, 15日
[5]. 日本機械学会い東海支部第66期総会・講演会でのオーガナイズドセッション （2017年3月)
[役割] 責任者(議長、実行委員長等） [開催場所] 静岡大学浜松キャンパス
[備考] オーガナイズドセッションの企画，座長です．
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[1]. 日本光学会誌「光学」において特集を企画 （2017年2月 )
[2]. 日本光学会誌「光学」において特集を企画 （2016年1月 - 2017年3月 )
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