[1]. UV-enhanced SEM: towards orientation and electron work function imaging Journal of Instrumentation / - (2026年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] Maciej Kretkowski, Haoran Mu, Hsin-Hui Huang, Krishna Prassad Khakurel, Lukita Sari Ikhsan, Yu Masuda, Saulius Juodkazis, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata [2]. Contrast Enhancement of SEM Image using Photoelectric Effect under UV LED Irradiation Applied Sciences 15/24 - 13250 (2025年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] Lukita Sari Ikhsan, Yu Masuda, Maciej Kretkowski, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata [備考] Discussion [DOI] [3]. Optimization of Coating Strategies and Evaluating Performance of NaGdF4:Yb,Er Upconversion Films on Silicon Nitride Membrane for Electron Beam Excitation-Assisted Optical Microscope toward High-Resolution Bioimaging Applications ACS Applied Optical Materials / - (2025年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] Santhana Vedi, Kei Hosomi, Maciej Kretkowski, Yu Masuda, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata, Muthukaruppan Alagar, SubbaRao Tadury Madhukar, Thangaraju Dheivasigamani [DOI] [4]. Silicon Plasmonics for Enhanced Responsivity of Silicon Photodetectors in Deep-Ultraviolet Region Physical Review Letters 134/22 226901-226905 (2025年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] Yu-ichiro Tanaka, Atsushi Ono, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata [DOI] [5]. Promising transition metal molybdate (TMM) single phase microstructures for asymmetric supercapacitor and photocatalytic applications Ceramics International 50/24 55865-55878 (2024年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] Priyadharshini Shanmugam, Kei Hosomi, Ramesh Rajendran, Balaji Krishnasamy, Maciej Kretkowski, Wataru Inami, Yoshimasa Kawata, Thangaraju Dheivasigamani [DOI]
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[1]. 機械工学実験指導書 静岡大学工学部機械工学科 (2014年) [著書の別]著書(教育) [単著・共著・編著等の別] 共著 [著者]居波 渉,本澤 政明,松井 信,清水 昌幸,藤井 朋之,臼杵 深,寺林 賢司,静 弘生 [備考] 光顕微計測の部分を担当
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[1]. Electron-Beam Excitation Assisted Optical Microscopy for High Resolution Bio-Imaging and Cell Stimulation European Optocal Socsiety Annual Meeting (EOSAM) 2025 (2026年8月) 招待講演以外 [発表者]Yoshimasa Kawata, Wataru Inami, [2]. 電子線励起アシスト光学顕微鏡の高機能化に向けたナノ粒子蛍光膜の作製と電子線励起発光の評価 レーザー学会学術講演会第46回年次大会 (2026年4月1日) 招待講演以外 [発表者]沼尾竜聖, 益田有, 居波渉, 川田善正 [3]. Live Cell Imaging and Cell Stimulations with Direct Electron-Beam Excitation Assisted Microscoopy AFMD2026 (2026年3月) 招待講演以外 [発表者]Yoshimasa Kawata, Yu Masuda, Maciej Kretkowski, Wataru Inami [4]. 電子線を用いた硬さ測定方法の開発 第20回 関東学生研究論文講演会 (2026年3月) 招待講演以外 [発表者]井上凌佑, 益田有, 居波渉,川田善正 [5]. 電子線照射による化学構造変化のラマン分光解析 第20回 関東学生研究論文講演会 (2026年3月) 招待講演以外 [発表者]宮田怜緒真, 川田善正, 居波渉, 益田有
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[1]. 電子線励起近赤外超解像顕微鏡による生体分子のナノスケール化学分析技術の開発 ( 2026年4月 ~ 2028年3月 ) 基盤研究(C) 代表 [2]. 電子線直接照射によるナノ領域の生細胞刺激法の開発 ( 2020年4月 ~ 2023年3月 ) 基盤研究(B) 分担 [3]. 電子線励起超解像顕微鏡における蛍光薄膜の厚さの最適化とコントラスト増強 ( 2019年4月 ~ 2022年3月 ) 基盤研究(C) 代表 [4]. 単一イオンチャンネル観察のための電子線検出型イオンセンサーの開発 ( 2018年4月 ~ 2022年3月 ) 挑戦的研究(萌芽) 分担 [5]. 微分位相コントラスト超解像顕微鏡の開発とその応用 ( 2016年4月 ~ 2019年3月 ) 基盤研究(C) 代表
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[1]. 先端ナノフォトニクスのためのプラズモニックおよび非線形メタサーフェス 英文 (2026年4月 - 2028年3月 ) [提供機関] 日本学術振興会 [制度名] 二国間交流事業 共同研究・セミナー ドイツ(DAAD)との共同研究 [担当区分] 研究分担者 [備考] 配分額が代表者と分担者で分けられない [2]. 超解像位相差顕微鏡の開発 (2016年4月 - 2017年3月 ) [提供機関] 公益財団法人上原記念生命科学財団 [制度名] 研究助成 [担当区分] 研究代表者 [3]. 無染色の細胞を高コントラストに観察可能な超解像顕微鏡の開発 (2016年4月 - 2017年3月 ) [提供機関] 公益財団法人豊田理化学研究所 [制度名] 豊田理研スカラー [担当区分] 研究代表者 [4]. 電子線検出によるイオン分布のナノイメージセンシングシステム (2015年4月 - 2021年3月 ) [提供機関] JST [制度名] A-STEP ステージⅠ(戦略テーマ重点タイプ) [担当区分] 研究分担者 [5]. 蛍光寿命測定による細胞内イオン濃度の定量測定法の開発 (2010年4月 ) [提供機関] (財)日本科学協会 [制度名] 笹川科学研究助成 [担当区分] 研究代表者
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[1]. 日本光学会「2017年 日本の光学研究」の一つに選ばれた (2018年2月) [授与機関] 日本光学会 [備考] 団体:日本光学会 [2]. 高柳研究奨励賞 (2014年12月) [授与機関] 財団法人浜松電子工学奨励会
「電子線励起アシスト光学顕微鏡の開発」 [備考] 財団法人浜松電子工学奨励会
「電子線励起アシスト光学顕微鏡の開発」 [3]. ISOM'14 Workshop Best Poster Award (2014年12月) [授与機関] ISOM [備考] 光メモリ国際シンポジウム(ISOM)
学生の受賞です。 [4]. Best Paper Award (2014年9月) [授与機関] IEEE Photonics Society [備考] IEEE Photonics Society
国際学会5th International Conference on Photonics 2014での受賞
M. Kawashima, A. Ono, W. Inami, Y. Kawata [5]. Best Paper Award (2014年9月) [授与機関] IEEE Photonics Society [備考] IEEE Photonics Society
国際学会5th International Conference on Photonics 2014での受賞
Y. Masuda, W. Inami, Y. Nawa, Y.Kawata
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[1]. TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE [出願番号] 13/013,919 (2011年1月26日) [特許番号] US8,431,897 B2 (2013年4月30日) [2]. 透過型電子顕微鏡 [出願番号] 2010-26242 (2010年2月9日) [特許番号] 5529573 (2014年6月25日) [備考] 2010-26242 [3]. 線分析機能の備える電子顕微鏡 [出願番号] 2009-104870 (2009年4月23日) [特許番号] 5491763 (2014年5月14日) [備考] 2009-104870
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[1]. OPJ2026 (2026年12月) [役割] 責任者以外 [開催場所] 浜松 [2]. ISOM2026 (2026年10月) [役割] 責任者以外 [開催場所] 浜松 [3]. Microoptics Conference 2021 (2021年11月) [役割] 責任者以外 [開催場所] アクトシティー浜松 [備考] 現地実行委員 [4]. BISC18 (2018年1月) [役割] 責任者以外 [開催場所] パシフィコ横浜 [備考] プログラムコミッティ [5]. BISC17 (2017年4月) [役割] 責任者以外 [開催場所] パシフィコ横浜 [備考] プログラムコミッティ
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[1]. 日本光学会誌「光学」において特集を企画 (2017年2月 ) [2]. 日本光学会誌「光学」において特集を企画 (2016年1月 - 2017年3月 )
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