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FUTAGAWA Masato
Patents, etc.
[1]. イオン濃度計測装置 [Application Number] 特願2021-176467 (2021/10/28)
[Notes] PCT出願：2022年10月11日（21033PCT）
[2]. 水分センサ [Application Number] 特願2020-173878 (2020/10/5)
[Notes] PCT出願番号：PCT/JP2021/038081 国際出願日：2021年10月14日
[3]. 土壌評価センサ、土壌評価システム及び土壌評価センサ用の電極及びインピーダンス特性を得る装置 [Application Number] 特願2020-198529, PCT/JP2019/41187 (2018/10/22) [Patent Number] 特許第7356730号 (2023/9/27)
[Notes] PCT出願番号：PCT/JP2019/41187
PCT出願日：2019年10月18日
欧州特許成立
欧州特許登録番号：3872483（2023.10.18 登録）
[4]. イオン濃度計測装置 [Application Number] 特願2018-104495 (2018/5/31) [Patent Number] 特許第7391382号 (2023/11/27)
[Notes] 日本特許成立 特許第7391382号
米国特許成立 11828721
PCT出願番号：PCT/JP2019/021623
PCT出願日：2019年5月30日
公開番号：WO2019/230917
米国出願番号：17/058886
米国移行日：2020年11月25日
[5]. 土壌センサ及び土壌計測方法 [Application Number] 特願2017-204337 (2017/10/23) [Patent Number] 特許第7133858号 (2022/9/1)
[Notes] PCT出願番号：PCT/JP2018/038638
PCT出願日：2018年10月17日
米国出願番号：16/756885
米国移行日：2020年4月17日
欧州出願番号：18871471.1
欧州移行日：2020年5月7日
オランダ特許番号：3702768（2023.9.13 登録）
[6]. 半導体装置および半導体装置の設計方法 [Application Number] 特願2017-023082 (2017/2/10) [Patent Number] 特許第6994186号 (2021/12/15)
[7]. イオン濃度測定装置及びイオン濃度測定方法 [Application Number] 特願2018-502978 (2017/2/8) [Patent Number] 特許第6762575号 (2020/9/11)
[8]. 半導体装置および半導体装置の製造方法 [Application Number] 特願2016-188209 (2016/9/27) [Patent Number] 特許第6883777号 (2021/5/13)
[9]. 半導体装置及び半導体装置の製造方法 [Application Number] 特願2016-146584 (2016/7/26) [Patent Number] 特許第6884338号 (2021/5/14)
[10]. センサモジュール、測定システム、及び測定方法 [Application Number] 特願2015-227832 (2015/11/20) [Patent Number] 特許第6827229号 (2021/1/21)
[11]. 半導体装置の製造方法および半導体装置 [Application Number] 特願2015-169741 (2015/8/28) [Patent Number] 特許第6569901号 (2019/8/16)
[12]. 電位制御装置、電位制御方法、計測装置及び計測システム [Application Number] 特願2015-42629 , PCT/JP2016/056871 (2015/3/4) [Patent Number] 特許第6537595号 (2019/6/14)
[Notes] 特願2015-42629（2015年3月4日）
PCT/JP2016/056871（2016年3月4日）
[13]. 半導体装置及び半導体装置の製造方法 [Application Number] 特願2014-208420 (2014/10/9) [Patent Number] 特許第6493955号 (2019/6/14)
[14]. ｐHを特定する方法及びその装置並びにイオン濃度を特定する方法 (2014/1/7) [Patent Number] 2944951 , 特許第6245612号
[Notes] 欧州特許 成立 （登録番号：2944951 登録日2017年3⽉22⽇）
日本特許 成立 （特許第6245612号 登録日2017年11月24日）
[15]. 酸化還元電位の測定装置及び測定方法 (2012/8/10) [Patent Number] US9,689,837 , 特許第6241889号
[Notes] 米国 権利受理 （2017年6月27日 成立）
登録番号：US9,689,837
日本特許成立（2017年11月17日 成立）
特許第6241889号
[16]. 水分検出装置、電気伝導度検出装置、センサネットワークシステム、プログラム、水分検出方法および電気伝導度検出方法 [Application Number] 特願2012-068302 (2012/3/23) [Patent Number] 特許第6047692号 (2016/12/2)
[Notes] 日本 権利受理 （2016年12月2日成立）
[17]. 水分検出装置、電気伝導度検出装置、センサネットワークシステム、プログラム、水分検出方法および電気伝導度検出方法 [Application Number] 特願2012-068303 (2012/3/23) [Patent Number] 特許第5919936号 (2016/4/22)
[Notes] 日本 権利受理 （2016年4月22日成立）
[18]. 電気化学センサ、電気化学測定装置及び検出システム [Application Number] 特願2011-196949 (2011/9/9)
[19]. 土壌の水分状態特定装置及びその方法 (2010/6/17) [Patent Number] ZL201180029311.5 , 特許第5871237号
[Notes] 中国 権利受理（2015年4月27日成立）
登録番号：ZL201180029311.5、
日本 権利受理（2016年3月1日成立）
登録番号：特許第5871237号
[20]. マルチモーダルセンサ [Application Number] 特願2009-229164 , PCT/JP2010/065965 (2009/10/1)
[Notes] 特願2009-229164, PCT/JP2010/065965
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