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静岡大学教員データベース - 教員個別情報 : 二川 雅登 (FUTAGAWA Masato)

特許 等

【特許 等】
[1]. 水分センサ [出願番号] 特願2020-173878 (2020年10月5日)
[2]. 土壌評価センサ、土壌評価システム及び土壌評価センサ用の電極及びインピーダンス特性を得る装置 [出願番号] 特願2018-198529, PCT/JP2019/41187 (2018年10月22日)
[備考] PCT出願番号:PCT/JP2019/41187 PCT出願日:2019年10月18日
[3]. イオン濃度計測装置 [出願番号] 特願2018-104495 (2018年5月31日)
[備考] PCT出願番号:PCT/JP2019/021623 PCT出願日:2019年5月30日 公開番号:WO2019/230917 米国出願番号:17/058886 米国移行日:2020年11月25日
[4]. 土壌センサ及び土壌計測方法 [出願番号] 特願2017-204337 (2017年10月23日)
[備考] PCT出願番号:PCT/JP2018/038638 PCT出願日:2018年10月17日 米国出願番号:16/756885 米国移行日:2020年4月17日 欧州出願番号:18871471.1 欧州移行日:2020年5月7日
[5]. 半導体装置および半導体装置の設計方法 [出願番号] 特願2017-023082 (2017年2月10日)
[6]. イオン濃度測定装置及びイオン濃度測定方法 [出願番号] 特願2018-502978 (2017年2月8日) [特許番号] 特許第6762575号 (2020年9月11日)
[7]. 半導体装置および半導体装置の製造方法 [出願番号] 特願2016-188209 (2016年9月27日)
[8]. 半導体装置及び半導体装置の製造方法 [出願番号] 特願2016-146584 (2016年7月26日)
[9]. センサモジュール、測定システム、及び測定方法 [出願番号] 特願2015-227832 (2015年11月20日) [特許番号] 特許第6827229号 (2021年1月21日)
[10]. 半導体装置の製造方法および半導体装置 [出願番号] 特願2015-169741 (2015年8月28日) [特許番号] 特許第6569901号 (2019年8月16日)
[11]. 電位制御装置、電位制御方法、計測装置及び計測システム [出願番号] 特願2015-42629 , PCT/JP2016/056871 (2015年3月4日) [特許番号] 特許第6537595号 (2019年6月14日)
[備考] 特願2015-42629(2015年3月4日) PCT/JP2016/056871(2016年3月4日)
[12]. 半導体装置及び半導体装置の製造方法 [出願番号] 特願2014-208420 (2014年10月9日)
[13]. pHを特定する方法及びその装置並びにイオン濃度を特定する方法 (2014年1月7日) [特許番号] 2944951 , 特許第6245612号
[備考] 欧州特許 成立 (登録番号:2944951 登録日2017年3⽉22⽇) 日本特許 成立 (特許第6245612号 登録日2017年11月24日)
[14]. 酸化還元電位の測定装置及び測定方法 (2012年8月10日) [特許番号] US9,689,837 , 特許第6241889号
[備考] 米国 権利受理 (2017年6月27日 成立) 登録番号:US9,689,837 日本特許成立(2017年11月17日 成立) 特許第6241889号
[15]. 水分検出装置、電気伝導度検出装置、センサネットワークシステム、プログラム、水分検出方法および電気伝導度検出方法 [出願番号] 特願2012-068302 (2012年3月23日)
[16]. 水分検出装置、電気伝導度検出装置、センサネットワークシステム、プログラム、水分検出方法および電気伝導度検出方法 (2012年3月23日) [特許番号] 特許第5919936号
[備考] 日本 権利受理 (2016年4月22日成立)
[17]. 電気化学センサ、電気化学測定装置及び検出システム [出願番号] 特願2011-196949 (2011年9月9日)
[18]. 土壌の水分状態特定装置及びその方法 (2010年6月17日) [特許番号] ZL201180029311.5 , 特許第5871237号
[備考] 中国 権利受理(2015年4月27日成立) 登録番号:ZL201180029311.5、 日本 権利受理(2016年3月1日成立) 登録番号:特許第5871237号
[19]. マルチモーダルセンサ [出願番号] 特願2009-229164 , PCT/JP2010/065965 (2009年10月1日)
[備考] 特願2009-229164, PCT/JP2010/065965