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Researcher DataBase - Personal Information : SASAKI Tetsuo

Patents, etc.

【Patents, etc.】
[1]. 物質識別装置、物質識別方法、及びテラヘルツ光源 [Application Number] 特願2021-122665 (2021/7/27)
[2]. 電磁波発生装置 [Application Number] 特願2011-064448 (2011/3/23)
[Notes] 西澤潤一、佐々木哲朗、猿倉信彦、河村賢一、バルダス　パシスケビキウス、上智学院、東京インスツルメンツ、日本
[3]. テラヘルツ周波数における全反射減衰分光測定法及び装置 (2007/4/24)
[Notes] 西澤潤一、田邉匡生、小山裕、釼持敦志、佐々木哲朗、半導体研究振興会、日本、特願2007-
[4]. テラヘルツ電磁波に対する透過フィルタ (2007/4/24)
[Notes] 西澤潤一、田邉匡生、釼持敦志、小山裕、佐々木哲朗、半導体研究振興会、日本、特願2007-
[5]. 生体中あるいは生体排出物質の検出及び分析方法 [Application Number] 特願2007-67493 (2007/2/15)
[Notes] 西澤潤一、須藤建、佐々木哲朗、吉田孝、相場節也、澤井高志、三浦康宏、半導体研究振興会、日本
[6]. 虫歯の検出方法および装置 [Application Number] 特願2007-67492 (2007/2/15)
[Notes] 西澤潤一、佐々木哲朗、須藤建、半導体研究振興会、日本
[7]. 反射測定装置および方法 [Application Number] 特願2007-35498 (2007/1/17)
[Notes] 西澤潤一、佐々木哲朗、渡辺拓、半導体研究振興会、日本
[8]. テラヘルツ電磁波発生方法及び分光・イメージング測定装置 [Application Number] 特願2006-269435 (2006/9/1)
[Notes] 西澤潤一、田邉匡生、釼持敦志、佐々木哲朗、小山裕、半導体研究振興会、日本
[9]. 流体中含有物質を高感度検出する測定装置および方法 [Application Number] 特願2004-365024 (2004/11/17)
[Notes] 西澤潤一、佐々木哲朗、半導体研究振興会、日本
[10]. 電磁波による殺菌方法および装置 [Application Number] 特願2004-149779 (2004/4/16)
[Notes] 西澤潤一、須藤建、佐々木哲朗、半導体研究振興会、日本、特願2004-149779
[11]. テラヘルツ波発生装置 [Application Number] PCT/JP2004/016165 (2004/1/29)
[Notes] 西澤潤一、須藤建、佐々木哲朗、田邉匡生、木村智之、半導体研究振興会、PCT
[12]. 反射光学特性によって物性を測定する装置および測定方法 [Application Number] 特願2003-436318 (2003/12/5)
[Notes] 西澤潤一、須藤建、佐々木哲朗、半導体研究振興会、日本
[13]. 電磁波の照射を利用した食品検査装置および検査方法 [Application Number] 特願2003-436320 (2003/12/5)
[Notes] 西澤潤一、倉林徹、須藤建、佐々木哲朗、田邉匡生、半導体研究振興会、日本
[14]. 光制御集積型静電誘導サイリスタ及びその製造方法 [Application Number] 特願平10-23665 (1998/2/4)
[Notes] 西澤 潤一、出崎 一石、佐々木 哲朗、半導体研究振興会、日本、特許公開平11-224944