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静岡大学教員データベース - 教員個別情報 : 臼杵 深 (USUKI SHIN)

論文 等

【論文 等】
[1]. Interpolation of Point Sequences with Extremum of Curvature by Log-aesthetic Curves with G2 continuity
Computer-Aided Design and Applications 18/2 399-410 (2020年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Dan Wang, R.U. Gobithaasan, Tadatoshi Sekine, Shin Usuki, Kenjiro T. Miura
[2]. High-resolution nonfluorescent imaging with structured illumination for patterned surface measurement
Measurement Science and Technology 31/8 084003- (2020年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Shin Usuki, Gaku Shibata and Kenjiro T. Miura [DOI]
[3]. τ-curve -Introduction of Cusps to Aesthetic Curves
Journal of Computational Design and Engineering 7/2 155-164 (2020年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] K.T. Miura, S. Suzuki, S. Usuki, R.U. Gobithaasan
[4]. G1 Hermite Interpolating with Discrete Log-aesthetic Curves and Surfaces
Computer-Aided Design and Applications 17/3 607-620 (2019年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kazumichi Yagi, Sho Suzuki, Shin Usuki, Kenjiro T. Miura
[5]. ライトフィールド顕微鏡
実験医学 36/20 3414-3415 (2018年) [査読] 無 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 臼杵深
[6]. 人工関節表層メッシュ構造の生成 -幾何形状の回転対称性を利用したABF法の改良-
精密工学会誌 84/8 731-737 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 中村優人, 鈴木晶, 臼杵深, 北澤弘幸, 三浦憲二郎
[7]. A New Log-aesthetic Space Curve Based on Similarity Geometry
Computer-Aided Design and Applications 16/1 79-88 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Kenjiro T. Miura, Sho Suzuki, R.U. Gobithaasan, Shin Usuki
[8]. Acquisition of Disaster Emergency Information Using a Terrain Database by Flying Robots
Journal of Robotics and Mechatronics 15/5 443-452 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Yasuki Miyazaki, Takafumi Hirano, Takaaki Kobayashi, Yoshihiro Imai, Shin Usuki, Yuichi Kobayashi, Kenji Terabayashi, Kenjiro T. Miura
[9]. A new formulation of the minimum variation log-aesthetic surface for scale-invariance and parameterization-independence
Computer-Aided Design and Applications 15/5 661-666 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]S. Suzuki [共著者]R.U. Gobithaasan,S. Usuki,K.T. Miura
[10]. Ultrasound modulated laser confocal feedback imaging inside turbid media
Optics Letters 43/6 1207-1210 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]Yidong Tan [共著者]Kaiyi Zhu,Yueyue Lu,Shulian Zhang,Haowen Ruan,Shin Usuki
[11]. 製造現場での高分解能観察のための構造化照明顕微鏡
OPTRONICS 37/3 121-125 (2018年) [査読] 無 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 臼杵 深 [備考] 解説記事
[12]. Fairness metric of plane curves defined with similarity geometry invariants
Computer-Aided Design and Applications 15/2 256-263 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]Kenjiro T. Miura [共著者]Sho Suzuki,R.U. Gobithaasan,Shin Usuki,Jun-ichi Inoguchi,Masayuki Sato
[13]. Minimum Variation Logaesthetic Surfaces and Their Applications for Smoothing Free-form Shapes
Journal of Computational Design and Engineering 5/2 243-248 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]S. Suzuki [共著者]R.U. Gobithaasan,P. Salvi,S. Usuki,K.T. Miura
[14]. Structure Analysis with 3D Hexahedral Meshes Generated by a Label-Driven Subdivision
International Journal of Automation Technology 12/1 113-122 (2018年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]Bo Liu [共著者]Kenjiro T. Miura,Shin Usuki
[15]. Three-Dimensional Reconstruction by Time-Domain Optical Coherence Tomography Microscope with Improved Measurement Range
International Journal of Automation Technology 11/5 787-794 (2017年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]K. Tamaki,K. T. Miura
[16]. Log-aesthetic flow governed by heat conduction equations
Computer-Aided Design and Appications 14/2 227-233 (2017年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]K. T. Miura [共著者]S. Suzuki,R.U. Gobithaasan,P. Salvi,S. Usuki
[17]. デジタルデータに基づくシボ加工技術とModelingNanoプロジェクト
精密工学会誌 82/11 933-938 (2016年) [査読] 無 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]三浦憲二郎 [共著者]臼杵 深 [備考] ModelingNanoプロジェクト
[18]. A Digital Grain Generation Method Suitable for Geometric Textures
International Journal of Automation Technology 10/2 209-213 (2016年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]R. Miyachi [共著者]S. Usuki,K. T. Miura
[19]. Structure Analysis with 2D Quadrilateral Meshes Generated by a Label-Driven Subdivision
International Journal of Automation Technology 10/2 187-194 (2016年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]B. Liu [共著者]S. Usuki,K. T. Miura
[20]. Digital Shape Reconstruction of a Micro-Sized Machining Tool Using Light-Field Microscopy
International Journal of Automation Technology 10/2 172-178 (2016年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]M. Uno,K. T. Miura
[21]. ライトフィールド顕微鏡によるイメージングとその応用
光技術コンタクト 53/12 4-10 (2015年) [査読] 無 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 臼杵 深 [備考] 解説記事
[22]. 3D measurement using light field microscopy with improved resolution
ITE Technical Report 39/44 1-2 (2015年) [査読] 無 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S.Usuki [共著者]Y. Ohashi,K. T. Miura [備考] ISSN 1342-6893
[23]. Development of Multi-resolution Microscopy Image Processing System
Journal of Imaging Science and Technology 59/6 60403-1-60403-11 (2015年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]T. Suzuki [共著者]S. Usuki and K. T. Miura
[24]. Optical Microscopy with Improved Resolution Using Two-beam Interference of Low-coherence Light
Measurement 78/ 373-380 (2015年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]T. Takada and K. T. Miura
[25]. The Polar-aesthetic Curve and Its Applications to Scissors Design
Computer-Aided Design and Applications 12/4 431-438 (2014年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]K. T. Miura [共著者]R.U. Gobithaasan, S. Usuki
[26]. Velocity calculation of 2D geometric objects by use of surface interpolation in 3D
Journal of Advanced Mechanical Design, Systems, and Manufacturing 8/2 1-8 (2014年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]Y. Mandachi [共著者]S. Usuki,K. T. Miura
[27]. 顕微鏡動画像における合焦位置推定をもちいたマイクロ形状計測
砥粒加工学会誌 (vol)57/(num)11 (xxx)735-(zzz)738 (2013年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]萬立洋次郎 [共著者]臼杵 深,三浦憲二郎
[28]. 変調照明シフトによる光学式超解像欠陥計測に関する研究
精密工学会誌 79/10 924-926 (2013年) [査読] 無 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 臼杵 深 [備考] 解説記事
[29]. Designing Log-aesthetic Splines with G2 Continuity
Computer-Aided Design and Applications (vol)10/(num)6 (xxx)1021-(zzz)1032 (2013年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]K. T. Miura [共著者]D. Shibuya,R. U. Gobithaasan,S. Usuki
[30]. 対数型美的曲線を用いたG2 Hermite内挿法
精密工学会誌 (vol)79/(num)3 (xxx) 260- (zzz)265 (2013年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]三浦憲二郎 [共著者]臼杵 深,澁谷大,蘭豊礼,玉井博文,牧野洋
[31]. Generation and Control of 3D Standing Wave Illumination for Wide-Field High-Resolution 3D Microscopic Measurement
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing (vol)14/(num)1 (xxx) 55- (zzz)60 (2013年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]H. Kanaka,K. T. Miura
[32]. Nano-Micro Geometric Modeling Using Microscopic Image
Key Engineering Materials (vol)523-524/(num) (xxx) 345- (zzz)349 (2012年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]K. T. Miura
[33]. A Grain Generation Method for Large Die Data Using the Out-of-Core Method
Computer-Aided Design & Applications (vol)9/(num)6 (xxx) 915- (zzz)923 (2012年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]C.N. Tang [共著者]S. Usuki,D. Uzuyama,K.T. Miura,M. Kikuta
[34]. Variational Formulation of the Log-Aesthetic Surface and Development of Discrete Surface Filters
Computer-Aided Design & Applications (vol)9/(num)6 (xxx) 901- (zzz)914 (2012年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]K.T. Miura [共著者]S. Usuki,R. Shirahata,S. Agari,R.U. Gobithaasan
[35]. Generation and Control of Wide-Field Three-Dimensional Structured Illumination for Advanced Microscopic Imaging
Key Engineering Materials (vol)516/(num) (xxx) 640- (zzz)644 (2012年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]H. Kanaka,K. T. Miura
[36]. Influence of standing wave phase error on super-resolution optical inspection for periodic microstructures
Measurement Science and Technology (vol)23/(num)5 (xxx) 054007- (zzz) (2012年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]R. Kudo [共著者]S. Usuki,S. Takahashi,K. Takamasu
[37]. An Integrated Processing Method for Multiple Large-scale Point-Clouds Captured from Different Viewpoints
Computer-Aided Design & Applications (vol)8/(num)4 (xxx) 519- (zzz)530 (2011年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]Y. Kawauchi [共著者]S. Usuki,K.T. Miura,H. Masuda,I. Tanaka
[38]. High-Resolution Tolerance Against Noise Imaging Technique Based on Active Shift of Optical Axis
International Journal of Automation Technology (vol)5/(num)2 (xxx) 206- (zzz)211 (2011年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]K. T. Miura
[39]. Simulation-Based Analysis of Influence of Error on Super-Resolution Optical Inspection
International Journal of Automation Technology (vol)5/(num)2 (xxx) 167- (zzz)172 (2011年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]R. Kudo [共著者]S. Usuki,S. Takahashi,K. Takamasu
[40]. Super resolution optical measurements of nanodefects on Si wafer surface using infrared standing evanescent wave
CIRP Annals Manufacturing Technology (vol)60/(num)1 (xxx) 523- (zzz)526 (2011年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]S.Takahashi [共著者]S. Usuki,R. Kudo,K. Takamasu
[41]. Experimental verification of super-resolution optical inspection for semiconductor defect by using standing wave illumination shift
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology (vol)46/(num)9 (xxx) 863- (zzz)875 (2010年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]H. Nishioka,S. Takahashi,K. Takamasu
[42]. 定在エバネッセント波照明による超解像イメージング
光学 (vol)38/(num)7 (xxx) 364- (zzz)372 (2009年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]高橋哲 [共著者]臼杵 深,高増潔
[43]. Study on residual resist layer thickness measurement for Nanoimprint Lithography based on near-field optics
International Journal of Surface Science and Engineering (vol)3/(num)3 (xxx) 178- (zzz)194 (2009年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]S.Takahashi [共著者]S.Usuki,S.Minamiguchi,T.Nakao,K.Takamasu
[44]. Analysis of Lateral Resolution Improvement for Fluorescence Microscopy Using Standing Evanescent Light
Measurement Science and Technology (vol)19/(num)8 (xxx) 084006- (zzz) (2008年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]S. Takahashi [共著者]S. Usuki,S. Okada,H. Nishioka,K. Takamasu
[45]. 変調照明シフトによる超精密加工表面の超解像光学式欠陥計測に関する研究(第2報)-定在波照明シフト実験による解像原理の実験的検討-
精密工学会誌 (vol)74/(num)6 (xxx) 581- (zzz)586 (2008年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]臼杵 深 [共著者]西岡宏晃,高橋哲,高増潔
[46]. 変調照明シフトによる超精密加工表面の超解像光学式欠陥計測に関する研究(第1報)-解像特性の理論的検討-
精密工学会誌 (vol)74/(num)5 (xxx) 498- (zzz)503 (2008年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]臼杵 深 [共著者]西岡宏晃,高橋哲,高増潔
[47]. リングビームを用いた三次元変位測定法(第2報)-リングイメージの楕円近似による非線形性の改善-
精密工学会誌 (vol)72/(num)1 (xxx) 132- (zzz)136 (2006年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]臼杵 深 [共著者]高増潔,大園成夫,江並和宏,平木雅彦,高橋哲
[48]. Theoretical Analysis and Basic Experiments for the 3D Displacement Measurement Using Ring-Shaped Laser Beam
Key Engineering Materials (vol)295-296/(num) (xxx) 295- (zzz)300 (2005年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]S. Usuki [共著者]K. Enami,M. Hiraki,S. Takahashi,K. Takamasu
[49]. リングビームを用いた三次元変位測定法(第1報)-理論解析と基礎実験-
精密工学会誌 (vol)69/(num)12 (xxx) 1764- (zzz)1768 (2003年) [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]江並和宏 [共著者]臼杵 深,平木雅彦,高増潔,大園成夫