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Researcher DataBase - Personal Information : IWATA Futoshi

Patents, etc.

【Patents, etc.】
[1]. エッチング装置及びエッチング方法 [Application Number] 2023-027515 (2023/2/24)
[2]. ナノニードルアレイを用いた細胞への物質導入 [Application Number] 2015-04739 (2015/3/10) [Patent Number] 6449057号 (2018/12/14)
[3]. 微小付着物剥離システムおよび微小付着物剥離方法 [Application Number] 特願2011-189801 (2011/8/31) [Patent Number] 特許第5849331号
[Notes] 登録日　2015年12月11日
[4]. 走査型プローブ顕微鏡を用いた表面加工装置 (2011/8/20)
[Notes] 　出願番号(PCT)　登録番号(10048)
[5]. CONTACT STATE DETECTION APPARATUS [Application Number] 13/744,587 (2011/7/30) [Patent Number] US 9118311 B2
[Notes] Date ofPatent: Aug.25,2015
[6]. 接触状態検出装置接触状態検出方法接触状態検出用コンピュータープログラム接触状態検出装置を備る電気伝導度測定システム及接触状態検出方法を含電気伝導度測定方法　 [Application Number] 2012-524575 (2011/7/13) [Patent Number] 特許第5849335号
[Notes] 登録日平成27年12月11日
[7]. ステージ装置 [Application Number] 2009100897 (2009/4/17)
[Notes] 登録番号(2009100897)
[8]. 微粒子固定装置および微粒子固定方法 [Application Number] 2008-14642 (2008/1/25) [Patent Number] 特許第5447759号
[Notes] 登録番号(2008014642)
[9]. Micro-machining dust removing device, micro-machining apparatus, and micro-machining dust removing method (2007/8/31)
[Notes] 　登録番号(11/810230)
[10]. 磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置 [Application Number] 2007227209 (2007/8/31)
[Notes] 登録番号(2007227209)
[11]. 液中測定装置及び液中測定方法 [Application Number] 2007157585 (2007/6/14)
[Notes] 登録番号(2007157585)
[12]. 微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法 [Application Number] 2007147138 (2007/6/1)
[Notes] 登録番号(2007147138)
[13]. 微粒子固定装置および微粒子固定方法 [Application Number] 2006236599 (2007/5/31) [Patent Number] 4714877
[14]. 微小物質固定装置及び微小物質固定方法 [Application Number] 2006236599 (2006/8/31)
[Notes] 登録番号(2006236599)
[15]. 成膜装置及び製膜方法 [Application Number] 2006-236598 (2006/8/31) [Patent Number] 486258
[Notes] 登録番号(2006236598) 発明者　岩田 太、山本龍二、佐々木 彰
[16]. 微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法 [Application Number] 2006156385 (2006/6/5)
[Notes] 登録番号(2006156385)
[17]. 光硬化性樹脂の微細加工方法及び装置 [Application Number] 2005306214 (2005/10/20) [Patent Number] 4797165
[18]. 散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 [Application Number] 2005105316 (2004/8/31)
[Notes] 登録番号(200698386)
[19]. 微小物質の再配置方法 [Application Number] 2004170126 (2004/5/31)
[Notes] 登録番号(2005349254)
[20]. 基板上に微小物質を堆積させる方法 [Application Number] 2004170125 (2004/5/31)
[Notes] 登録番号(2005349496)
[21]. 微細加工方法及び装置　　 [Application Number] 200416979 (2004/5/31)
[Notes] 登録番号(2005349487)
[22]. 電流の計測方法および表面形状の測定装置 [Application Number] 2001064937 (2001/3/8)
[Notes] 登録番号(2002267588)
[23]. 電流の計測方法および表面の測定装置 [Application Number] 2000372814 (2000/12/7)
[Notes] 登録番号(2002174580)