トップページ  > 教員個別情報  > 特許　等

静岡大学教員データベース - 教員個別情報 : 岩田 太 （IWATA Futoshi）

特許　等

【特許　等】
[1]. エッチング装置及びエッチング方法 [出願番号] 2023-027515 (2023年2月24日)
[2]. ナノニードルアレイを用いた細胞への物質導入 [出願番号] 2015-04739 (2015年3月10日) [特許番号] 6449057号 (2018年12月14日)
[3]. 微小付着物剥離システムおよび微小付着物剥離方法 [出願番号] 特願2011-189801 (2011年8月31日) [特許番号] 特許第5849331号
[備考] 登録日　2015年12月11日
[4]. 走査型プローブ顕微鏡を用いた表面加工装置 (2011年8月20日)
[備考] 　出願番号(PCT)　登録番号(10048)
[5]. CONTACT STATE DETECTION APPARATUS [出願番号] 13/744,587 (2011年7月30日) [特許番号] US 9118311 B2
[備考] Date ofPatent: Aug.25,2015
[6]. 接触状態検出装置接触状態検出方法接触状態検出用コンピュータープログラム接触状態検出装置を備る電気伝導度測定システム及接触状態検出方法を含電気伝導度測定方法　 [出願番号] 2012-524575 (2011年7月13日) [特許番号] 特許第5849335号
[備考] 登録日平成27年12月11日
[7]. ステージ装置 [出願番号] 2009100897 (2009年4月17日)
[備考] 登録番号(2009100897)
[8]. 微粒子固定装置および微粒子固定方法 [出願番号] 2008-14642 (2008年1月25日) [特許番号] 特許第5447759号
[備考] 登録番号(2008014642)
[9]. Micro-machining dust removing device, micro-machining apparatus, and micro-machining dust removing method (2007年8月31日)
[備考] 　登録番号(11/810230)
[10]. 磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置 [出願番号] 2007227209 (2007年8月31日)
[備考] 登録番号(2007227209)
[11]. 液中測定装置及び液中測定方法 [出願番号] 2007157585 (2007年6月14日)
[備考] 登録番号(2007157585)
[12]. 微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法 [出願番号] 2007147138 (2007年6月1日)
[備考] 登録番号(2007147138)
[13]. 微粒子固定装置および微粒子固定方法 [出願番号] 2006236599 (2007年5月31日) [特許番号] 4714877
[14]. 微小物質固定装置及び微小物質固定方法 [出願番号] 2006236599 (2006年8月31日)
[備考] 登録番号(2006236599)
[15]. 成膜装置及び製膜方法 [出願番号] 2006-236598 (2006年8月31日) [特許番号] 486258
[備考] 登録番号(2006236598) 発明者　岩田 太、山本龍二、佐々木 彰
[16]. 微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法 [出願番号] 2006156385 (2006年6月5日)
[備考] 登録番号(2006156385)
[17]. 光硬化性樹脂の微細加工方法及び装置 [出願番号] 2005306214 (2005年10月20日) [特許番号] 4797165
[18]. 散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 [出願番号] 2005105316 (2004年8月31日)
[備考] 登録番号(200698386)
[19]. 微小物質の再配置方法 [出願番号] 2004170126 (2004年5月31日)
[備考] 登録番号(2005349254)
[20]. 基板上に微小物質を堆積させる方法 [出願番号] 2004170125 (2004年5月31日)
[備考] 登録番号(2005349496)
[21]. 微細加工方法及び装置　　 [出願番号] 200416979 (2004年5月31日)
[備考] 登録番号(2005349487)
[22]. 電流の計測方法および表面形状の測定装置 [出願番号] 2001064937 (2001年3月8日)
[備考] 登録番号(2002267588)
[23]. 電流の計測方法および表面の測定装置 [出願番号] 2000372814 (2000年12月7日)
[備考] 登録番号(2002174580)