静岡大学：教員データベース - 岩田太（IWATA Futoshi）

静岡大学教員データベース - 教員個別情報 : 岩田太（IWATA Futoshi）

論文　等

【論文　等】
[1]. Human induced pluripotent stem cells are resistant to human cytomegalovirus infection primarily at the attachment level due to the reduced expression of cell-surface heparan sulfate J. Virol. / - （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] H. Kawasaki, T. Hariyama, I. Kosugi, S. Meguro, F. Iwata, K. Shimizu, Y. Magata, and T. Iwashita [DOI] [2]. In-process sintering of Au nanoparticles deposited in laser-assisted electrophoretic deposition Opt. Express 31/25 41726-41739 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] Y Yoshimoto, K Nakazawa, M Ishikawa, A Ono, F Iwata [DOI] [3]. In-process monitoring of atmospheric pressure plasma jet etching by a confocal laser displacement sensor Microsys. 29/ 1107-1116 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] T. Tomita, K. Nakazawa, T. Hiraoka, Y. Otsuka, K. Nakamura, and F. Iwata [4]. レーザー支援電気泳動堆積法によるマイクロ3Dプリンティング法の開発光技術コンタクト 618/ 28-34 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田太　中澤謙太 [5]. Scanning ion conductance microscope with a capacitance compensated current source amplifier Rev. Sci. Instrum. 94/7 073705- （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] K. Nakazawa, T. Tsukamoto, F. Iwata [DOI] [6]. Microneedle Array-Assisted, Direct Delivery of Genome-Editing Proteins Into Plant Tissue Front. Plant Sci. 13/ - 878059 （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] A. Viswan, A. Yamagishi, M. Hoshi, Y. Furuhata, Y. Kato, N. Makimoto, T. Takeshita, T. Kobayashi, F. Iwata, M. Kimura, T. Yoshizumi and C. Nakamura [DOI] [7]. Precise Deposition of Carbon Nanotube Bundles by Inkjet-Printing on a CMOS-Compatible Platform Materials 15/14 4935- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] R. S. Singh, K. Takagi, T. Aoki, J. H. Moon, Y. Neo, F. Iwata, H. Mimura and D. Moraru [DOI] [8]. Imaging of an electret film fabricated on a micro-machined energy harvester by a Kelvin probe force microscope IEEE Trans. Instrum. Meas. 71/ 4501907 (7p) - （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] K. Nakazawa, K. Fukazawa, T. Uruma, G. Hashiguchi, and F. Iwata [DOI] [9]. Sub-micrometer plasma-enhanced chemical vapor deposition using an atmospheric pressure plasma jet localized by a nanopipette scanning probe microscope J. Micromech. Microeng 32/ 015006 (10pp)- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] S. Yamamoto, K. Nakazawa, A. Ogino and F. Iwata [10]. Additive Manufacturing of Metal Micro-ring and Tube by Laser-Assisted Electrophoretic Deposition with Laguerre–Gaussian Beam Nanomanufacturing and Metrology 4/ 271-277 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] K. Nakazawa, S. Ozawa, and F. Iwata [備考] Published: 04 January 2021 Issue Date: December 2021 [DOI] [11]. Comparison of scanning ion-conductance microscopy with scanning electron microscopy for imaging the surface topography of cells and tissues Bioanalytical Reviews, Springer, Berlin, Heidelberg. (Books) / - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Ushiki, F. Iwata, M. Nakajima and Y. Mizutani, [DOI] [12]. Scanning ion conductance microscopy of isolated metaphase chromosomes in a liquid environment Chromosome Res. 29/ 95-106 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Ushiki, K. Ishizaki, Y. Mizutani, M. Nakajima, and F. Iwata [DOI] [13]. Micromachining of polymers using atmospheric pressure inductively coupled helium plasma localized by a scanning nanopipette probe microscope J. Micromech. Microeng. 31/6 065008 (10pp) - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] S. Toda, K. Nakazawa, A. Ogino, M. Shimomura and F. Iwata [備考] Published online: 15 April 2021 [DOI] [14]. Scanning ion-conductance microscopy with a double-barreled nanopipette for topographic imaging of charged chromosomes Microscopy / - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] Futoshi Iwata, Tatsuru Shirasawa, Yusuke Mizutani, Tatsuo Ushiki [DOI] [15]. High spatial resolution multimodal imaging by tapping-mode scanning probe electrospray ionization with feedback control Anal. Chem. 93/4 2263-2272 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] Y. Otsuka, B. Kamihoriuchi, A. Takeuchi, F. Iwata, S. Tortorella, and T. Matsumoto [DOI] [16]. Atmospheric He/O2 plasma jet fine etching with a scanning probe microscope AIP Adovantes 10/ - （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] K. Nakazawa, S. Yamamoto, E. Nakagawa, A. Ogino, M. Shimomura, and F. Iwata [17]. Metals by Micro‐Scale Additive Manufacturing: Comparison of Microstructure and Mechanical Properties Adv. Funct. Mater. 30/ 1910491 - （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] A. Reiser, L. Koch, K. A. Dunn, T. Matsuura, F. Iwata, O. Fogel, Z. Kotler, N. Zhou, K. Charipar, A. Piqué, P. Rohner, D. Poulikakos, S. Lee, S. K. Seol, I. Utke, C. van Nisselroy, T. Zambelli, J. M. Wheeler, R. Spolenak [DOI] [18]. Local electroplating deposition for free-standing micropillars using a bias-modulated scanning ion conductance microscope Microsystem Technologies 26/ 1333-1342 （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] K. Nakazawa, M. Yoshioka, Y. Mizutani, T. Ushiki, F. Iwata [DOI] [19]. Development of atomic force microscopy combined with scanning electron microscopy for investigating electronic devices AIP Advances 9/ 115011- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] T. Uruma, C. Tsunemitsu, K. Terao, K. Nakazawa, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata [20]. Development of scanning capacitance force microscopy using the dissipative force modulation method Measurement Science and Technology 31/ 035904- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto and F. Iwata [21]. 大気圧サンプリングイオン化法“SPESI”における帯電ナノ体積液体の動的変化表面と真空 62/8 48-53 （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] 上堀内武尉,　大塚洋一,　竹内彩,　岩田太,　松本卓也 [22]. Direct Delivery of Cas9-sgRNA Ribonucleoproteins into Cells Using a Nanoneedle Array Appl. Sci. 9/965 - （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] A. Yamagishi , D. Matsumoto , Y. Kato , Y. Honda , M. Morikawa , F. Iwata , T. Kobayashi, and C. Nakamura [DOI] [23]. Micropillar fabrication based on local electrophoretic deposition using a scanning ion conductance microscope with a theta nanopipette Jpn. J. Appl. Phys 58/ 046503- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] M. Yoshioka, Y. Mizutani, T. Ushiki, K. Nakazawa, and F. Iwata [DOI] [24]. Visualization of Sampling and Ionization Processes in Scanning Probe Electrospray Ionization Mass Spectrometry Mass Spectrom. 7/2 S0078- （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] B. Kamihoriuchi, Y. Otsuka, A.Takeuchi, F. Iwata, T. Matsumoto [DOI] [25]. Measurement of lateral removal force for a baked polymer particle on a glass plate J. Photopolym. Sci. Tec. 31/3 403-407 （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Sanada, E. Tokuda, F. Iwata, C. Takatoh, A. Fukunaga,　H. Hiyama [26]. Investigation of an n－layer in a silicon fast recovery diode under applied bias voltagesusing Kelvin probe force microscopy Jpn. J. Appl. Phys 57/8S1 08NB11-1- （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] T. Uruma, N. Satoh, H.Yamamoto, and F. Iwata [27]. Scanning ion conductance microscopy for visualizing the three-dimensional surface topography of cells and tissues Seminars in Cell & Developmental Biology 73/ 125-131 （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]T. Ushiki [共著者]M. Nakajima,Y. Mizutani,F. Iwata [備考] IF 6.614 [28]. Local electrophoretic deposition using a nanopipette for micropillar fabrication Jpn. J. Appl. Phys. 56/ 126701-1-126701-7 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]J. Metoki [備考] IF 1.384 [29]. A new cell separation method based on antibody-immobilized nanoneedle arrays for the detection of intracellular markers Nano Letters 17/ 7117- 7124 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] R. Kawamura, M. Miyazaki ,K. Shimizu, Y. Matsumoto,Y. Silberberg, R. Ramachandra, M. Iijima, S. Kuroda, F. Iwata, T. Kobayashi,,C. Nakamura [備考] IF 12.712 [30]. Local electrophoresis deposition assisted by laser trapping coupled Jpn. J. Appl. Phys. 56/ 105502.1-‐105502.6 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F.Iwata [共著者]T. Matsuura,T. Takai [備考] IF 1.384 [DOI] [31]. Mechanoporation of living cells for delivery of macromolecules Journal of Bioscience and Bioengineering 122/6 748-752 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]C. Nakamura [共著者]D. Matsumoto,　A. Yamagishi, M. Saito, R. R. Sathuluri,Y. R. Silberberg,F. Iwata,T. Kobayashi [32]. 走査型イオン伝導顕微鏡を用いた単一細胞エレクトロポレーション応用物理 86/9 791-795 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田太 [共著者]牛木　辰男 [33]. プローブ顕微鏡を用いた微細加工・マニピュレーション精密工学会誌 82/2 135- 139 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田太 [34]. Reduced Sampling Size with Nanopipette for Tapping-Mode Scanning Probe ElectrosprayIonization Mass Spectrometry Imaging Mass Spectrometry 5/S0054 1-6 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Kohigashi,Y. Otsuka, R. Shimazu,T. Matsumoto,F. Iwata, H. Kawasaki, R. Arakawa [35]. Mechanoporation of living cells for delivery of macromolecules using nanoneedle array Journal of Bioscience and Bioengineering 122/6 748- 752 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] D. Matsumoto, A. Yamagishi,M. Saito, R. R. Sathuluri,Y. R. Silberberg,F. Iwata,T. Kobayashi ,C. Nakamura [備考] IF 2.240 [36]. Argon gas flow through glass nanopipette Jpn. J. Appl. Phys. 55/(num) 125202.1-125202.5 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Takami, K. Nishimoto,T. Goto,S. Ogawa,F. Iwata, Y. Takakuwa [備考] IF 1.384 [37]. Scanning Nanopipette Probe Microscope for Nanofabrication Using atmospheric pressure plasma jet Advances in Intelligent Systems and Computing 1519/ 109- 115 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田太 [共著者]F. Iwata,D. Morimatsu,H. Sugimoto,A. Nakamura,A. Ogino M. Nagatsu [38]. Development of a scanning nanopipette probe microscope for fine processing using atmospheric pressure plasma jet Jpn. J. Appl. Phys 55/ 08NB15- （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]D. Morimatsu,H. Sugimoto, A. Nakamura,A. Ogino, M. Nagatsu [備考] IF値　1.122 [39]. Maskless localized patterning of biomolecules on carbon nanotube　microarray functionalized by ultrafine atmospheric pressure plasma　jet using biotin-avidin system Appl.Phys.Lett. 109/ 023701 - （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Abuzairi, M. Okada,R. W. Purnamaningsih,N. R. Poespawati,F. Iwata ,M. Nagatsu [40]. Development of SEM for Realtime 3D Imaging and Its Applications in Biology Hitachi Review 65/7 - （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Ushiki, F. Iwata,W. Kotake,S. Ito [41]. リアルタイムで立体視観察が可能な走査型電子顕微鏡の開発とその生物学応用日立評論 98 /05 327- 331 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] 牛木辰男,岩田太,小竹航,伊東祐博 [42]. ATP-mediated release of a DNA-binding protein from a silicon nanoneedle array Electrochemistry 85/5 305-307 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]C. Nakamura [共著者]D. Matsumoto, M. Nishio, Y. Kato, W. Yoshida, K. Abe, K. Fukazawa, K. Ishihara, F. Iwata, K. Ikebukuro, C. Nakamura [備考] IＦ値 1.03 [43]. Developments for Physical Cleaning Sample with High Adhesion Force Particles and Direct Measurement of its Removal Force Solid State Phenomena 255/ 201-206 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] E. Tokuda,T. Sanada, F. Iwata, C. Takato, H. Hiyama, F. Akira [44]. Oscillating high-aspect-ratio monolithic silicon nanoneedle array enables efficient delivery of functional bio-macromolecules into living cells Scientific Reports 5/ 15325- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]C. Nakamura [共著者]D. Matsumoto,R. R. Sathuluri, Y. Kato, Y. R. Silberberg, R. Kawamura, F. Iwata, T. Kobayashi [備考] IF　5.578 [45]. A single-cell scraper based on an atomic force microscope for detaching a living cell from a substrate J. Appl. Phys 118/ 134701- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Adachi,S. Hashimoto [備考] IF2.274 [46]. Development of a single cell electroporation method using a scanning ion conductance microscope with a theta type probe pipet Jpn. J. Appl. Phys 54 (2015) / 08LB04- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Sakurai, K. Yamazaki ,T. Ushiki,F. Iwata [備考] IF 1.127 [47]. Investigation of shear force of a single adhesion cell using a self-sensitive cantilever and fluorescence microscopy Jpn. J. Appl. Phys 54 (2015)/ 08LB03- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Hashimoto, M. Adachi,F. Iwata [備考] IF値 1.127 [48]. Loca deposition using an electrostaric inkjet technique with a nanopipette for photomask repair Int.J.Nanomanufacturig 11/3/4 111- 121 （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]H. Ui [49]. AFM力学マニュピレータ開発電気学会誌 134/12 812- 815 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田　太 [共著者]岩田　太,牛木辰男 [50]. Three-dimensional microfabrication using local electrophoresis deposition and a laser trapping technique Optics Express 22/23 28109-28117 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. Takai,H. Nakao,F. Iwata [備考] IF値　3.525 [51]. A Green Approach for Highly Reduction of Graphene Oxide by Supercritical Fluid Advanced Materials Research 1004/1005 1013- 1016 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] C. Y．Kong,Y. Shiratori,T. Sako, F. Iwata [52]. Local electroporation of a single cell using a scanning ion conductance microscope Jpn. J. Appl. Phys 53 / - 036701 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,K. Yamazaki,K. Ishizaki,T. Ushiki [備考] IF値　1.057 [53]. Development of a Self-Sensing probe for Local Depositions in Liquid Condition Int. J. Nanomanufacturing 10 /4 309-404 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Ito,F. Iwata [54]. Development of nanomanipulator using a high-speed atomic force micro scope coupled with a haptic device Ultramicroscopy 133/ 88- 94 （2013年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,Y. Ohashi,I. Ishisaki, L. M. Picco,T. Ushiki, [備考] IF 2.35 [55]. 走査型イオン伝導顕微鏡のバイオ応用表面科学 34/9 482-487 （2013年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] 牛木辰男,中島真人,岩田　太 [56]. A compact nano manipulator based on an atomic force microscope coupling with a scanning electron microscope or an inverted optical microscope J Micro-Bio Robot 1.8/ 25- 32 （2013年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者] F. Iwata,Y. Mizuguchi, H. Ko,T. Ushiki [備考] IF値1.804 [57]. Scanning ion conductance microscopy for imaging biological samples in liquid * 43/ 1390-1398 （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Ushiki,M. Nakajima,M. Choi,S. J. Cho,F. Iwata [備考] IF値1.876 [58]. Probe type micro magnetic manipulator utilising localised magnetic field with closed-loop magnetic path Int. J. Nanomanufacturing 1.8/1/2 161-172 （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Ito, K. Ito, F. Iwata [59]. Nanomanipulator based on a high-speed atomic force microscopy Key Eng.Mater 516/(num) 396-401 （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]I. Ishisaki,Y. Ohashi,T. Ushiki,F. Iwata [備考] IF: 0.224 [60]. 電子顕微鏡におけるAFMのマニピュレータ利用(解説) O plus E 34/3 - （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田太 [共著者]岩田太,牛木辰男 [61]. Direct observation of potassium ions in HeLa cell with ion-selective nano-pipette probe J. Appl. Phys 111/ 044702- （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] T. Takami,F. Iwata,K. Yamazaki,J. W. Son,J. K. Lee,B. H. Park,T. Kawai [備考] IF値1.057 [62]. Nanomanipulation of biological samples using a compact atomic force microscope under scanning electron microscope observation J.Electron Microscopy 60/6 359-366 （2011年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F.Iwata, [共著者]F. Iwata,Y. Mizuguchi,H. Ko,T. Ushiki [63]. Nanometer-scale Deposition of Metal Plating Using a Nanopipette Probe in Liquid Condition Jpn. J. Appl. Phys. /50 08LB15- （2011年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Ito,F. Iwata [備考] IF値1.06 [64]. Operation of Self-Sensitive Cantilever in Liquid for Multiprobe Manipulation Jpn.J.Appl.Phys 49/ 08LB14 5- （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] F. Iwata,Y. Mizuguchi,K. Ozawa,T. Ushiki [備考] 1.018 [65]. マイクロ磁気プローブで操作された磁性体微粒子による生体試料のマニピュレーション精密工学会誌 76/ 64-68 （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田太 [共著者]岩田太,伊東　聡,中尾　秀信,七里　元晴 [66]. Volume Control of Metal-Plating Deposition Using a Nanopipette Probe by Controlling Electric Charge Jpn.J.Appl.Phys 49/08LB16 5- （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] S. Ito,T. Keino,F. Iwata [備考] IF値1.018 [67]. リアルタイム3D走査電子顕微鏡の医学生物応用顕微鏡 45/3 198- 201 （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] 牛木　辰男,伊藤　裕博,伊藤　広,岩田　太,甲賀　大輔 [68]. Production of ultrafine atmospheric pressure plasma jet with nano-capillary Thin Solid Films 518/* 3457-3460 （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] R. Kakei ,A. Ogino,F. Iwata,M. Nagatsu [備考] IF値1.909 [69]. Volume Control of Metal-Plating Deposition Using a Nanopipette Probe by Controlling Electric Charge Jpn. J. Appl. Phys 49/ 08LB16 (5page)- （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,S. Ito,T. Keino [備考] IF値　1.018 [70]. レーザートラップを用いたナノ微粒子のマニピュレーションおよび局所的推積法(解説) ケミカル・エンジニヤリング 54/12 60-63 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田　太 [71]. シングルスリットを用いた鏡面反射率による表面粗さ測定の研究精密工学会誌 75/11 1305-1309 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] 深谷次助,佐々木彰,岩田太,田口敬之,橋本保幸,山中崇志 [72]. 電子顕微鏡内で動作する顕微解剖用小型AFMの開発(解説) 日本機械学会誌 112/10 850- （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田太 [73]. Local electrophoresis deposition ofnanomaterials assisted by a laser trappingtechnique" Nanotechnology 20/ 235303- 235308 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,M. Kaji,A. Suzuki,S. Ito,H. Nakao [74]. Development of a nano manipulator based on an atomic force microscope coupled with a haptic device: a novel manipulation tool for scanning electron microscopy Arch Histol Cytol 72/ 271-278 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,K. Kawanishi,H. Aoyama,T. Ushiki [75]. Removal method of nano-cut debris for photomask repair usingan atomic force microscopy system Jpn. J. Appl. Phys 48/ 08JB20-1-4 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Saigo,T. Asao,M. Yasutake,O. Takaoka,T. Nakaue,S. Kikuchi [76]. ナノピペットプローブ顕微鏡を用いた微細加工(解説) 化学工業 59/8 49~54- （2008年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] F.Iwata [備考] ／共著担当箇所（59巻8号, pp. 49-54） [77]. 散乱型SNOMを用いた微細加工技術の開発 Molecular Electronics and Bioelectronics 19/3 166-170 （2008年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田太 [78]. Nanometer-Scale Manipulation and Ultrasonic Cutting Using an Atomic ForceMicroscope Controlled by a Haptic Device as a Human Interface" Jpn.J.Appl.Phys 4/7 6181-6185 （2008年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Ohara,Y. Ishizu,A. Sasaki,H. Aoyama,T. Ushiki [79]. 顕微作業用XYθ小型自走機構の開発(第5報)圧電アクチュエーターの機能解析と速度向上精密工学会誌 73 /10 1164-1168 （2007年） [査読] 有 [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]淵脇大海 [共著者]大田明,見崎大悟,岩田太,臼田孝,青山尚之 [80]. 顕微作業用XYθ小型自走機構の開発(第4報)補正手法の改良と補正実験精密工学会誌 73/8 955-959 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]淵脇大海 [共著者]大田明,見崎大悟,岩田太,臼田孝,青山尚之 [81]. DNAテンプレートを利用する金属ナノアレイの調整表面科学 22/ 372-377 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]中尾秀信 [共著者]岩田太,柄澤英範,林英樹,三木一司 [82]. 電流検出可能な近接場光学顕微鏡による電気化学反応を用いたナノスケール着消色加工(解説) 電気化学および工業物理化学 75/6 484-488 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] F. Iwata [83]. Nanometre-scale deposition of colloidal Au particles using electrophoresis in a nanopipette probe Nanotechnology 18/ 10531-10534 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,S. Nagami,Y. Sumiya,A. Sasaki [84]. マイクロピペットプローブを用いた表面微細加工精密工学会誌 71/3 307-310 （2005年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田太 [85]. Fabricating and Aligning ð-Conjugated Polymer-Functionalized DNA Nanowires: Atomic Force Microscopic and Scanning Near-Field Optical Microscopic Studies LANGMUIR 21/17 7945-7950 （2005年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]H. Nakao [共著者]H. Hayashi,F. Iwata,H. Karasawa,K. Hirano,S. Sugiyama,T. Ohtani [86]. Nanometer-scale Metal Plating Using a Scanning Shear-Force Microscope with an Electrolyte-Filled Micropipette Probe Jpn. J. Appl. Phys. 43/ 4482-4485 （2004年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]Y. Sumiya,A. Sasaki [備考] IF値1.142 [87]. Submicrometer-scale fabrication of polycarbonate surface using a　scanning micropipette probe micrscope Nanotechnology 15/ 422-426 （2004年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]Y. Sumiya,S. Nagami,A. Sasaki [88]. 微細加工ツールとしてのプローブ技術(解説) 応用物理 73/ 490-493 （2004年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田太 [共著者]佐々木彰 [89]. 電流検出SNOMによる光機能材料表面のナノスケール観察(解説) 日本画像学会誌 144/ 154-159 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] 岩田太 [90]. Nanometer-scale layer modification of polycarbonate surface by scratching with tip oscillation using an atomic force microscope Wｅａｒ 254/10 1050-1055 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Yamaguchi,A. Sasaki [91]. Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film J. Microscopy 210/ 241-245 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Mikage,H. Sakaguchi,M. Kitao,A. Sasaki [92]. The use of capillary force for fabricating probe tips for scattering-type near-field scanning optical microscopes Appl.Phys.Lett. 82/10 1598-1600 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]Y. Kawata [共著者]S. Urahara,M. Murakami,F. Iwata [93]. Nanometer-scale properties of electrochromic films investigated by current-sensing scanning near-field optical microscopy Proccedings of 12th ICSTM/STS, / 343-348 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Mikage,M. Kitao,A. Sasaki [94]. Nanometer-scale electrochromic modification of NiO films using a novel technique of scanning near-field optical microscopy Solid State Ionics 165/ 7-13 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata, K.Mikage,H. Sakaguchi,M. Kitao,A. Sasaki [95]. Nanometer-Scale Electrochromic Properties Observed by Scanning　Near-Field Opical Microscopy Capable of Local Current Sensing Trans. Mat. Res. Soc. Jpn., 27/ 361-364 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Mikage,H. Sakaguchi,M. Kitao,A. SasakI [96]. シングルスリットによる鏡面反射率の測精密工学会誌 68/7 958-961 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]深谷　次助 [共著者]佐々木　彰,岩田　太,山本　和彦,若杉　靖夫 [97]. 原子間力顕微鏡を用いた超音波振動切消法=金属,ポリマー,生体試料のナノスケール加工(解説) 超音波TECHNO 18/2 23-27 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] F. Iwata [98]. Nanometer-scale modification of a urethane-urea copolymer film using local field enhancement at an apex of a metal coated probe Nanotechnology 13/(num) 138-142 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Kobayashi,A. Sasaki,Y. Kawata,C. Egami , O. Sugihara,M. Tuchimori, O. Watanabe [99]. Determination of Performance on Tunnel Conduction Through Molecular　Wire Using a Conductive Atomic Force Microscope Appl Phys.Lett. 79/22 3708-3710 （2001年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]A. Hirai,F. Iwata [100]. Nano wearing property of a fatigued Polycarbonate surface Studied by atomic force Microscopy J. Vac. Sci. & Technol. B 19/ 666-670 （2001年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者] Y. Suzuki, Y. Moriki,S. Koike, A. Sasaki [101]. Photoconductive imaging in a photor scanning funneling microscope capable of point contact current sensing using a conductive fiber J. Microscopy 202/ 188-192 （2001年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]D. Someya, H. Sakaguchi,Y. Igasaki,M. Kitao, T. Kubo, A. sasaki [102]. Semilinear Self-Pumped Phase-Conjugate Mirror Using Two　Coupled Cu:(K0.5Na0.5)0.2(Sr0.61Ba0.39)0.9Nb2O6 Crystals Jpn. J. Appl. Phys. 39/ 5665-5667 （2000年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]M. Doi [共著者]A. Sasaki,F. Iwata,Y. Zheng [備考] IF値1.157 [103]. Conductive atomic force microscopy study of InGaN films grown by hot-wall epitaxy with a mixed(Ga+In) J. Appl. Phys. 88/ 1670-1673 （2000年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Chu,A. Sasaki,K. Ishino,A. Ishida,H. Fujiyasu [104]. Local elasticity imaging of nano bundle structure of polycarbonate surface using atomic force microscopy Nanotechnology 8/ 10-15 （2000年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. Matsumoto, A. Sasaki [105]. Scratching on polystyrene thin film without bumps using atomic force microscopy J. Vac. Sci. & Technol. B 17/ 2452-2456 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. Matumoto,R. Ogawa,A. Sasaki [106]. Generation of Forward Phase-Conjugate Beam by Cu:KNSBN-Cat Type Self-Pumped Phase-Conjugator Jpn. J. Appl. Phys. 38/ 5646-5648 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]M. Doi [共著者]A. Sasaki,F. Iwata,Y. Zheng [107]. スリット開口の回折パタ-ンによる反射率の測定光学 28/9 514-518 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]深谷次助 [共著者]佐々木　彰,岩田　太,長坂　学 [108]. Observation of a polystyrene surface modified by ultrasonic scratching using atomic force microscopy Jpn. J. Appl. Phys. 38/ 3936-3939 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. MAtumoto,R. Ogawa,A. Sasaki [109]. Nanometer-scale photoelectric property of organic thin films investigated by a photoconductive atomic force microscopy Jpn. J. Appl. Phys 38/ 3908 -3911 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]H. Sakaguchi [共著者]F. Iwata,A. Hirai,A. Sasaki,T. Nagamura [110]. スリット開口の回折パターンによる反射率の測定光学 28/9 514-518 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]深谷　次助 [共著者]佐々木　彰,岩田　太,長坂　学 [111]. Visible-laser ablation on a nanometer scale using urethane-urea copolymers Opt.Commun 157/ 150-154 （1998年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]C. Egami [共著者]Y. Kawata,Y. Aoshima,F. Iwata,O. Sugihara,M. Tsuchimori,O. Watanabe,N. Okamoto [112]. In-situ atomic force microscopy combined quartz crystal microbalance study of Ag electro deposition on Pt thin film Appl. Phys. A 66/ s463-465 （1998年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Saruta,A. Sasaki [113]. Ultrasonic micromachining on Al thin film using atomic force microscopy combined quartz crystal resonator Thin Solid Films 302/ 122-126 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Makoto,A. Sasaki [114]. Nanometer-scale layer removal of aluminum and polystyrene surfaces by ultrasonic scratching Jpn. J. Appl. Phys. 36/ 3834-3838 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Kawaguchi,A. Sasaki [115]. Ultrasonic micromachining on Al thin film using atomic force microscopy combined quartz crystal resonator Thin Solid Films 302/ 122-126 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Kwaguchi,A. Sasaki [116]. Scanning Tunneling Microscopy Combined Quartz Crystal Microbalance for Study of NH3 Adsorption on Ag Thin Film Thin Solid Films 299/ 78-82- （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Kawaguchi,A. Sasaki [117]. A Stable Scanning Tunnneling Microscopy Designed for Investigations of Organic Thin Films in Air Rev.Sci.Instrum. 68/ 1296-1299 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]F. Iwata,A. Katsumata,H. Aoyama,T. Akiyama,Y. Fuziyasu [118]. Shearing Stress on the Surface Topography by Scanning Shearing Stress Microscopy J. Vac. Sci. & Technol. B 14/ 849-851 （1996年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]A. Sasaki,M. Kawaguchi,A. Katsumata,H. Aoyama [119]. 水晶マイクロバランス法を用いた走査型ずれ応力顕微鏡の開発精密工学会誌 62/1 150-154 （1996年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 責任著者 [著者] [責任著者]岩田太 [共著者]川口　誠,佐々木　彰,勝又　章,青山　尚之 [120]. Miniature Robot with Micro Capillary Capturing Probe for Surface Clearing Operation　　　　　　　　　　　　　 J. Robotic. Mech. 7/ 488-492 （1995年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]H. Aoyama [共著者]F. Iwata,J. Fukaya,A. Sasaki [121]. Scanning Shearing-Stress Microscopy of Gold Thin Films　 Jpn. J. Appl. Phys. 33/ 547-L549 （1994年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]A. Katsumata,F. Iwata,H. Aoyama [122]. Scanning Shearing-Stress Microscope Appl. Phys. Lett. 64/1 124-125 （1994年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]A. Katsumata,F. Iwata,H. Aoyama [123]. Scanning Tunneling Microscopy and Barrier-Height Observation of Stearic Acid Thin Films Prepared by Hot-Wall Technique Jpn. J. Appl. Phys. 32/ .2952-2957 （1993年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]F. Iwata,A. Katsumata,J. Fukaya,H. Aoyama,T. Akiyama,Y. Nakano,H. Fujiyasu [124]. 高安定STMの製作とナノ加工への応用精密工学会誌 59/6 987-992 （1993年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]佐々木　彰 [共著者]岩田　太,勝又　章,和波　真吾,深谷　次助,青山　尚之 [125]. 変位補正機能付き走査型トンネル顕微鏡精密工学会誌 59/1 95-100 （1993年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]佐々木　彰 [共著者]川上　博己,山内　清茂,野崎　明俊,岩田　太,深谷　次助,小坂　明,青山　尚之,久保　高啓 [126]. レ-ザ-ビ-ム偏向による走査型トンネル顕微鏡圧電素子の変位測定光学 21/2 95-101 （1992年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない [責任著者・共著者の別] 共著者 [著者] [責任著者]佐々木　彰 [共著者]山田　浩史,深谷　次助,岩田　太,加藤　久季,青山　尚之,宮尾　正大,村上　健司,石川　賢司,野村　卓志,山口　豪,萩野　實

[1]. Human induced pluripotent stem cells are resistant to human cytomegalovirus infection primarily at the attachment level due to the reduced expression of cell-surface heparan sulfate
J. Virol. / - （2024年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] H. Kawasaki, T. Hariyama, I. Kosugi, S. Meguro, F. Iwata, K. Shimizu, Y. Magata, and T. Iwashita [DOI]
[2]. In-process sintering of Au nanoparticles deposited in laser-assisted electrophoretic deposition
Opt. Express 31/25 41726-41739 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Y Yoshimoto, K Nakazawa, M Ishikawa, A Ono, F Iwata [DOI]
[3]. In-process monitoring of atmospheric pressure plasma jet etching by a confocal laser displacement sensor
Microsys. 29/ 1107-1116 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] T. Tomita, K. Nakazawa, T. Hiraoka, Y. Otsuka, K. Nakamura, and F. Iwata
[4]. レーザー支援電気泳動堆積法によるマイクロ3Dプリンティング法の開発
光技術コンタクト 618/ 28-34 （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田太　中澤謙太
[5]. Scanning ion conductance microscope with a capacitance compensated current source amplifier
Rev. Sci. Instrum. 94/7 073705- （2023年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] K. Nakazawa, T. Tsukamoto, F. Iwata [DOI]
[6]. Microneedle Array-Assisted, Direct Delivery of Genome-Editing Proteins Into Plant Tissue
Front. Plant Sci. 13/ - 878059 （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] A. Viswan, A. Yamagishi, M. Hoshi, Y. Furuhata, Y. Kato, N. Makimoto, T. Takeshita, T. Kobayashi, F. Iwata, M. Kimura, T. Yoshizumi and C. Nakamura [DOI]
[7]. Precise Deposition of Carbon Nanotube Bundles by Inkjet-Printing on a CMOS-Compatible Platform
Materials 15/14 4935- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] R. S. Singh, K. Takagi, T. Aoki, J. H. Moon, Y. Neo, F. Iwata, H. Mimura and D. Moraru [DOI]
[8]. Imaging of an electret film fabricated on a micro-machined energy harvester by a Kelvin probe force microscope
IEEE Trans. Instrum. Meas. 71/ 4501907 (7p) - （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] K. Nakazawa, K. Fukazawa, T. Uruma, G. Hashiguchi, and F. Iwata [DOI]
[9]. Sub-micrometer plasma-enhanced chemical vapor deposition using an atmospheric pressure plasma jet localized by a nanopipette scanning probe microscope
J. Micromech. Microeng 32/ 015006 (10pp)- （2022年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] S. Yamamoto, K. Nakazawa, A. Ogino and F. Iwata
[10]. Additive Manufacturing of Metal Micro-ring and Tube by Laser-Assisted Electrophoretic Deposition with Laguerre–Gaussian Beam
Nanomanufacturing and Metrology 4/ 271-277 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] K. Nakazawa, S. Ozawa, and F. Iwata [備考] Published: 04 January 2021 Issue Date: December 2021
[DOI]
[11]. Comparison of scanning ion-conductance microscopy with scanning electron microscopy for imaging the surface topography of cells and tissues
Bioanalytical Reviews, Springer, Berlin, Heidelberg. (Books) / - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Ushiki, F. Iwata, M. Nakajima and Y. Mizutani, [DOI]
[12]. Scanning ion conductance microscopy of isolated metaphase chromosomes in a liquid environment
Chromosome Res. 29/ 95-106 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Ushiki, K. Ishizaki, Y. Mizutani, M. Nakajima, and F. Iwata [DOI]
[13]. Micromachining of polymers using atmospheric pressure inductively coupled helium plasma localized by a scanning nanopipette probe microscope
J. Micromech. Microeng. 31/6 065008 (10pp) - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] S. Toda, K. Nakazawa, A. Ogino, M. Shimomura and F. Iwata [備考] Published online: 15 April 2021
[DOI]
[14]. Scanning ion-conductance microscopy with a double-barreled nanopipette for topographic imaging of charged chromosomes
Microscopy / - （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] Futoshi Iwata, Tatsuru Shirasawa, Yusuke Mizutani, Tatsuo Ushiki [DOI]
[15]. High spatial resolution multimodal imaging by tapping-mode scanning probe electrospray ionization with feedback control
Anal. Chem. 93/4 2263-2272 （2021年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] Y. Otsuka, B. Kamihoriuchi, A. Takeuchi, F. Iwata, S. Tortorella, and T. Matsumoto [DOI]
[16]. Atmospheric He/O2 plasma jet fine etching with a scanning probe microscope
AIP Adovantes 10/ - （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] K. Nakazawa, S. Yamamoto, E. Nakagawa, A. Ogino, M. Shimomura, and F. Iwata
[17]. Metals by Micro‐Scale Additive Manufacturing: Comparison of Microstructure and Mechanical Properties
Adv. Funct. Mater. 30/ 1910491 - （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] A. Reiser, L. Koch, K. A. Dunn, T. Matsuura, F. Iwata, O. Fogel, Z. Kotler, N. Zhou, K. Charipar, A. Piqué, P. Rohner, D. Poulikakos, S. Lee, S. K. Seol, I. Utke, C. van Nisselroy, T. Zambelli, J. M. Wheeler, R. Spolenak [DOI]
[18]. Local electroplating deposition for free-standing micropillars using a bias-modulated scanning ion conductance microscope
Microsystem Technologies 26/ 1333-1342 （2020年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] K. Nakazawa, M. Yoshioka, Y. Mizutani, T. Ushiki, F. Iwata [DOI]
[19]. Development of atomic force microscopy combined with scanning electron microscopy for investigating electronic devices
AIP Advances 9/ 115011- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] T. Uruma, C. Tsunemitsu, K. Terao, K. Nakazawa, N. Satoh, H. Yamamoto, and F. Iwata
[20]. Development of scanning capacitance force microscopy using the dissipative force modulation method
Measurement Science and Technology 31/ 035904- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] T. Uruma, N. Satoh, H. Yamamoto and F. Iwata
[21]. 大気圧サンプリングイオン化法“SPESI”における帯電ナノ体積液体の動的変化
表面と真空 62/8 48-53 （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 上堀内武尉,　大塚洋一,　竹内彩,　岩田太,　松本卓也
[22]. Direct Delivery of Cas9-sgRNA Ribonucleoproteins into Cells Using a Nanoneedle Array
Appl. Sci. 9/965 - （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] A. Yamagishi , D. Matsumoto , Y. Kato , Y. Honda , M. Morikawa , F. Iwata , T. Kobayashi, and C. Nakamura [DOI]
[23]. Micropillar fabrication based on local electrophoretic deposition using a scanning ion conductance microscope with a theta nanopipette
Jpn. J. Appl. Phys 58/ 046503- （2019年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] M. Yoshioka, Y. Mizutani, T. Ushiki, K. Nakazawa, and F. Iwata [DOI]
[24]. Visualization of Sampling and Ionization Processes in Scanning Probe Electrospray Ionization Mass Spectrometry
Mass Spectrom. 7/2 S0078- （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] B. Kamihoriuchi, Y. Otsuka, A.Takeuchi, F. Iwata, T. Matsumoto [DOI]
[25]. Measurement of lateral removal force for a baked polymer particle on a glass plate
J. Photopolym. Sci. Tec. 31/3 403-407 （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Sanada, E. Tokuda, F. Iwata, C. Takatoh, A. Fukunaga,　H. Hiyama
[26]. Investigation of an n－layer in a silicon fast recovery diode under applied bias voltagesusing Kelvin probe force microscopy
Jpn. J. Appl. Phys 57/8S1 08NB11-1- （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] T. Uruma, N. Satoh, H.Yamamoto, and F. Iwata
[27]. Scanning ion conductance microscopy for visualizing the three-dimensional surface topography of cells and tissues
Seminars in Cell & Developmental Biology 73/ 125-131 （2018年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]T. Ushiki [共著者]M. Nakajima,Y. Mizutani,F. Iwata [備考] IF 6.614
[28]. Local electrophoretic deposition using a nanopipette for micropillar fabrication
Jpn. J. Appl. Phys. 56/ 126701-1-126701-7 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]J. Metoki [備考] IF 1.384
[29]. A new cell separation method based on antibody-immobilized nanoneedle arrays for the detection of intracellular markers
Nano Letters 17/ 7117- 7124 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] R. Kawamura, M. Miyazaki ,K. Shimizu, Y. Matsumoto,Y. Silberberg, R. Ramachandra, M. Iijima, S. Kuroda, F. Iwata, T. Kobayashi,,C. Nakamura [備考] IF 12.712
[30]. Local electrophoresis deposition assisted by laser trapping coupled
Jpn. J. Appl. Phys. 56/ 105502.1-‐105502.6 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F.Iwata [共著者]T. Matsuura,T. Takai [備考] IF 1.384
[DOI]
[31]. Mechanoporation of living cells for delivery of macromolecules
Journal of Bioscience and Bioengineering 122/6 748-752 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]C. Nakamura [共著者]D. Matsumoto,　A. Yamagishi, M. Saito, R. R. Sathuluri,Y. R. Silberberg,F. Iwata,T. Kobayashi
[32]. 走査型イオン伝導顕微鏡を用いた単一細胞エレクトロポレーション
応用物理 86/9 791-795 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田太 [共著者]牛木　辰男
[33]. プローブ顕微鏡を用いた微細加工・マニピュレーション
精密工学会誌 82/2 135- 139 （2017年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田太
[34]. Reduced Sampling Size with Nanopipette for Tapping-Mode Scanning Probe ElectrosprayIonization Mass Spectrometry Imaging
Mass Spectrometry 5/S0054 1-6 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Kohigashi,Y. Otsuka, R. Shimazu,T. Matsumoto,F. Iwata, H. Kawasaki, R. Arakawa
[35]. Mechanoporation of living cells for delivery of macromolecules using nanoneedle array
Journal of Bioscience and Bioengineering 122/6 748- 752 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] D. Matsumoto, A. Yamagishi,M. Saito, R. R. Sathuluri,Y. R. Silberberg,F. Iwata,T. Kobayashi ,C. Nakamura [備考] IF 2.240
[36]. Argon gas flow through glass nanopipette
Jpn. J. Appl. Phys. 55/(num) 125202.1-125202.5 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Takami, K. Nishimoto,T. Goto,S. Ogawa,F. Iwata, Y. Takakuwa [備考] IF 1.384
[37]. Scanning Nanopipette Probe Microscope for Nanofabrication Using atmospheric pressure plasma jet
Advances in Intelligent Systems and Computing 1519/ 109- 115 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田太 [共著者]F. Iwata,D. Morimatsu,H. Sugimoto,A. Nakamura,A. Ogino M. Nagatsu
[38]. Development of a scanning nanopipette probe microscope for fine processing using atmospheric pressure plasma jet
Jpn. J. Appl. Phys 55/ 08NB15- （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]D. Morimatsu,H. Sugimoto, A. Nakamura,A. Ogino, M. Nagatsu [備考] IF値　1.122
[39]. Maskless localized patterning of biomolecules on carbon nanotube　microarray functionalized by ultrafine atmospheric pressure plasma　jet using biotin-avidin system
Appl.Phys.Lett. 109/ 023701 - （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Abuzairi, M. Okada,R. W. Purnamaningsih,N. R. Poespawati,F. Iwata ,M. Nagatsu
[40]. Development of SEM for Realtime 3D Imaging and Its Applications in Biology
Hitachi Review 65/7 - （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Ushiki, F. Iwata,W. Kotake,S. Ito
[41]. リアルタイムで立体視観察が可能な走査型電子顕微鏡の開発とその生物学応用
日立評論 98 /05 327- 331 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 牛木辰男,岩田太,小竹航,伊東祐博
[42]. ATP-mediated release of a DNA-binding protein from a silicon nanoneedle array
Electrochemistry 85/5 305-307 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]C. Nakamura [共著者]D. Matsumoto, M. Nishio, Y. Kato, W. Yoshida, K. Abe, K. Fukazawa, K. Ishihara, F. Iwata, K. Ikebukuro, C. Nakamura [備考] IＦ値 1.03
[43]. Developments for Physical Cleaning Sample with High Adhesion Force Particles and Direct Measurement of its Removal Force
Solid State Phenomena 255/ 201-206 （2016年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] E. Tokuda,T. Sanada, F. Iwata, C. Takato, H. Hiyama, F. Akira
[44]. Oscillating high-aspect-ratio monolithic silicon nanoneedle array enables efficient delivery of functional bio-macromolecules into living cells
Scientific Reports 5/ 15325- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]C. Nakamura [共著者]D. Matsumoto,R. R. Sathuluri, Y. Kato, Y. R. Silberberg, R. Kawamura, F. Iwata, T. Kobayashi [備考] IF　5.578
[45]. A single-cell scraper based on an atomic force microscope for detaching a living cell from a substrate
J. Appl. Phys 118/ 134701- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Adachi,S. Hashimoto [備考] IF2.274
[46]. Development of a single cell electroporation method using a scanning ion conductance microscope with a theta type probe pipet
Jpn. J. Appl. Phys 54 (2015) / 08LB04- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Sakurai, K. Yamazaki ,T. Ushiki,F. Iwata [備考] IF 1.127
[47]. Investigation of shear force of a single adhesion cell using a self-sensitive cantilever and fluorescence microscopy
Jpn. J. Appl. Phys 54 (2015)/ 08LB03- （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Hashimoto, M. Adachi,F. Iwata [備考] IF値 1.127
[48]. Loca deposition using an electrostaric inkjet technique with a nanopipette for photomask repair
Int.J.Nanomanufacturig 11/3/4 111- 121 （2015年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]H. Ui
[49]. AFM力学マニュピレータ開発
電気学会誌 134/12 812- 815 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田　太 [共著者]岩田　太,牛木辰男
[50]. Three-dimensional microfabrication using local electrophoresis deposition and a laser trapping technique
Optics Express 22/23 28109-28117 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. Takai,H. Nakao,F. Iwata [備考] IF値　3.525
[51]. A Green Approach for Highly Reduction of Graphene Oxide by Supercritical Fluid
Advanced Materials Research 1004/1005 1013- 1016 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] C. Y．Kong,Y. Shiratori,T. Sako, F. Iwata
[52]. Local electroporation of a single cell using a scanning ion conductance microscope
Jpn. J. Appl. Phys 53 / - 036701 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,K. Yamazaki,K. Ishizaki,T. Ushiki [備考] IF値　1.057
[53]. Development of a Self-Sensing probe for Local Depositions in Liquid Condition
Int. J. Nanomanufacturing 10 /4 309-404 （2014年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Ito,F. Iwata
[54]. Development of nanomanipulator using a high-speed atomic force micro scope coupled with a haptic device
Ultramicroscopy 133/ 88- 94 （2013年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,Y. Ohashi,I. Ishisaki, L. M. Picco,T. Ushiki, [備考] IF 2.35
[55]. 走査型イオン伝導顕微鏡のバイオ応用
表面科学 34/9 482-487 （2013年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 牛木辰男,中島真人,岩田　太
[56]. A compact nano manipulator based on an atomic force microscope coupling with a scanning electron microscope or an inverted optical microscope
J Micro-Bio Robot 1.8/ 25- 32 （2013年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者] F. Iwata,Y. Mizuguchi, H. Ko,T. Ushiki [備考] IF値1.804
[57]. Scanning ion conductance microscopy for imaging biological samples in liquid
* 43/ 1390-1398 （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Ushiki,M. Nakajima,M. Choi,S. J. Cho,F. Iwata [備考] IF値1.876
[58]. Probe type micro magnetic manipulator utilising localised magnetic field with closed-loop magnetic path
Int. J. Nanomanufacturing 1.8/1/2 161-172 （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Ito, K. Ito, F. Iwata
[59]. Nanomanipulator based on a high-speed atomic force microscopy
Key Eng.Mater 516/(num) 396-401 （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]I. Ishisaki,Y. Ohashi,T. Ushiki,F. Iwata [備考] IF: 0.224
[60]. 電子顕微鏡におけるAFMのマニピュレータ利用(解説)
O plus E 34/3 - （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田太 [共著者]岩田太,牛木辰男
[61]. Direct observation of potassium ions in HeLa cell with ion-selective nano-pipette probe
J. Appl. Phys 111/ 044702- （2012年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当する
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] T. Takami,F. Iwata,K. Yamazaki,J. W. Son,J. K. Lee,B. H. Park,T. Kawai [備考] IF値1.057
[62]. Nanomanipulation of biological samples using a compact atomic force microscope under scanning electron microscope observation
J.Electron Microscopy 60/6 359-366 （2011年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F.Iwata, [共著者]F. Iwata,Y. Mizuguchi,H. Ko,T. Ushiki
[63]. Nanometer-scale Deposition of Metal Plating Using a Nanopipette Probe in Liquid Condition
Jpn. J. Appl. Phys. /50 08LB15- （2011年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Ito,F. Iwata [備考] IF値1.06
[64]. Operation of Self-Sensitive Cantilever in Liquid for Multiprobe Manipulation
Jpn.J.Appl.Phys 49/ 08LB14 5- （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] F. Iwata,Y. Mizuguchi,K. Ozawa,T. Ushiki [備考] 1.018
[65]. マイクロ磁気プローブで操作された磁性体微粒子による生体試料のマニピュレーション
精密工学会誌 76/ 64-68 （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田太 [共著者]岩田太,伊東　聡,中尾　秀信,七里　元晴
[66]. Volume Control of Metal-Plating Deposition Using a Nanopipette Probe by Controlling Electric Charge
Jpn.J.Appl.Phys 49/08LB16 5- （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] S. Ito,T. Keino,F. Iwata [備考] IF値1.018
[67]. リアルタイム3D走査電子顕微鏡の医学生物応用
顕微鏡 45/3 198- 201 （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 牛木　辰男,伊藤　裕博,伊藤　広,岩田　太,甲賀　大輔
[68]. Production of ultrafine atmospheric pressure plasma jet with nano-capillary
Thin Solid Films 518/* 3457-3460 （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] R. Kakei ,A. Ogino,F. Iwata,M. Nagatsu [備考] IF値1.909
[69]. Volume Control of Metal-Plating Deposition Using a Nanopipette Probe by Controlling Electric Charge
Jpn. J. Appl. Phys 49/ 08LB16 (5page)- （2010年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,S. Ito,T. Keino [備考] IF値　1.018
[70]. レーザートラップを用いたナノ微粒子のマニピュレーションおよび局所的推積法(解説)
ケミカル・エンジニヤリング 54/12 60-63 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田　太
[71]. シングルスリットを用いた鏡面反射率による表面粗さ測定の研究
精密工学会誌 75/11 1305-1309 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] 深谷次助,佐々木彰,岩田太,田口敬之,橋本保幸,山中崇志
[72]. 電子顕微鏡内で動作する顕微解剖用小型AFMの開発(解説)
日本機械学会誌 112/10 850- （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田太
[73]. Local electrophoresis deposition ofnanomaterials assisted by a laser trappingtechnique"
Nanotechnology 20/ 235303- 235308 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,M. Kaji,A. Suzuki,S. Ito,H. Nakao
[74]. Development of a nano manipulator based on an atomic force microscope coupled with a haptic device: a novel manipulation tool for scanning electron microscopy
Arch Histol Cytol 72/ 271-278 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,K. Kawanishi,H. Aoyama,T. Ushiki
[75]. Removal method of nano-cut debris for photomask repair usingan atomic force microscopy system
Jpn. J. Appl. Phys 48/ 08JB20-1-4 （2009年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Saigo,T. Asao,M. Yasutake,O. Takaoka,T. Nakaue,S. Kikuchi
[76]. ナノピペットプローブ顕微鏡を用いた微細加工(解説)
化学工業 59/8 49~54- （2008年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] F.Iwata [備考] ／共著担当箇所（59巻8号, pp. 49-54）
[77]. 散乱型SNOMを用いた微細加工技術の開発
Molecular Electronics and Bioelectronics 19/3 166-170 （2008年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田太
[78]. Nanometer-Scale Manipulation and Ultrasonic Cutting Using an Atomic ForceMicroscope Controlled by a Haptic Device as a Human Interface"
Jpn.J.Appl.Phys 4/7 6181-6185 （2008年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Ohara,Y. Ishizu,A. Sasaki,H. Aoyama,T. Ushiki
[79]. 顕微作業用XYθ小型自走機構の開発(第5報)圧電アクチュエーターの機能解析と速度向上
精密工学会誌 73 /10 1164-1168 （2007年） [査読] 有
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]淵脇大海 [共著者]大田明,見崎大悟,岩田太,臼田孝,青山尚之
[80]. 顕微作業用XYθ小型自走機構の開発(第4報)補正手法の改良と補正実験
精密工学会誌 73/8 955-959 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]淵脇大海 [共著者]大田明,見崎大悟,岩田太,臼田孝,青山尚之
[81]. DNAテンプレートを利用する金属ナノアレイの調整
表面科学 22/ 372-377 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]中尾秀信 [共著者]岩田太,柄澤英範,林英樹,三木一司
[82]. 電流検出可能な近接場光学顕微鏡による電気化学反応を用いたナノスケール着消色加工(解説)
電気化学および工業物理化学 75/6 484-488 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] F. Iwata
[83]. Nanometre-scale deposition of colloidal Au particles using electrophoresis in a nanopipette probe
Nanotechnology 18/ 10531-10534 （2007年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata,S. Nagami,Y. Sumiya,A. Sasaki
[84]. マイクロピペットプローブを用いた表面微細加工
精密工学会誌 71/3 307-310 （2005年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田太
[85]. Fabricating and Aligning ð-Conjugated Polymer-Functionalized DNA Nanowires: Atomic Force Microscopic and Scanning Near-Field Optical Microscopic Studies
LANGMUIR 21/17 7945-7950 （2005年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]H. Nakao [共著者]H. Hayashi,F. Iwata,H. Karasawa,K. Hirano,S. Sugiyama,T. Ohtani
[86]. Nanometer-scale Metal Plating Using a Scanning Shear-Force Microscope with an Electrolyte-Filled Micropipette Probe
Jpn. J. Appl. Phys. 43/ 4482-4485 （2004年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]Y. Sumiya,A. Sasaki [備考] IF値1.142
[87]. Submicrometer-scale fabrication of polycarbonate surface using a　scanning micropipette probe micrscope
Nanotechnology 15/ 422-426 （2004年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]Y. Sumiya,S. Nagami,A. Sasaki
[88]. 微細加工ツールとしてのプローブ技術(解説)
応用物理 73/ 490-493 （2004年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田太 [共著者]佐々木彰
[89]. 電流検出SNOMによる光機能材料表面のナノスケール観察(解説)
日本画像学会誌 144/ 154-159 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] 岩田太
[90]. Nanometer-scale layer modification of polycarbonate surface by scratching with tip oscillation using an atomic force microscope
Wｅａｒ 254/10 1050-1055 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Yamaguchi,A. Sasaki
[91]. Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometer-scale observation of electrochromic film
J. Microscopy 210/ 241-245 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Mikage,H. Sakaguchi,M. Kitao,A. Sasaki
[92]. The use of capillary force for fabricating probe tips for scattering-type near-field scanning optical microscopes
Appl.Phys.Lett. 82/10 1598-1600 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]Y. Kawata [共著者]S. Urahara,M. Murakami,F. Iwata
[93]. Nanometer-scale properties of electrochromic films investigated by current-sensing scanning near-field optical microscopy
Proccedings of 12th ICSTM/STS, / 343-348 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Mikage,M. Kitao,A. Sasaki
[94]. Nanometer-scale electrochromic modification of NiO films using a novel technique of scanning near-field optical microscopy
Solid State Ionics 165/ 7-13 （2003年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]F. Iwata, K.Mikage,H. Sakaguchi,M. Kitao,A. Sasaki
[95]. Nanometer-Scale Electrochromic Properties Observed by Scanning　Near-Field Opical Microscopy Capable of Local Current Sensing
Trans. Mat. Res. Soc. Jpn., 27/ 361-364 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Mikage,H. Sakaguchi,M. Kitao,A. SasakI
[96]. シングルスリットによる鏡面反射率の測
精密工学会誌 68/7 958-961 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]深谷　次助 [共著者]佐々木　彰,岩田　太,山本　和彦,若杉　靖夫
[97]. 原子間力顕微鏡を用いた超音波振動切消法=金属,ポリマー,生体試料のナノスケール加工(解説)
超音波TECHNO 18/2 23-27 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] F. Iwata
[98]. Nanometer-scale modification of a urethane-urea copolymer film using local field enhancement at an apex of a metal coated probe
Nanotechnology 13/(num) 138-142 （2002年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Kobayashi,A. Sasaki,Y. Kawata,C. Egami , O. Sugihara,M. Tuchimori, O. Watanabe
[99]. Determination of Performance on Tunnel Conduction Through Molecular　Wire Using a Conductive Atomic Force Microscope
Appl Phys.Lett. 79/22 3708-3710 （2001年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]A. Hirai,F. Iwata
[100]. Nano wearing property of a fatigued Polycarbonate surface Studied by atomic force Microscopy
J. Vac. Sci. & Technol. B 19/ 666-670 （2001年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者] Y. Suzuki, Y. Moriki,S. Koike, A. Sasaki
[101]. Photoconductive imaging in a photor scanning funneling microscope capable of point contact current sensing using a conductive fiber
J. Microscopy 202/ 188-192 （2001年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]D. Someya, H. Sakaguchi,Y. Igasaki,M. Kitao, T. Kubo, A. sasaki
[102]. Semilinear Self-Pumped Phase-Conjugate Mirror Using Two　Coupled Cu:(K0.5Na0.5)0.2(Sr0.61Ba0.39)0.9Nb2O6 Crystals
Jpn. J. Appl. Phys. 39/ 5665-5667 （2000年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]M. Doi [共著者]A. Sasaki,F. Iwata,Y. Zheng [備考] IF値1.157
[103]. Conductive atomic force microscopy study of InGaN films grown by hot-wall epitaxy with a mixed(Ga+In)
J. Appl. Phys. 88/ 1670-1673 （2000年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]S. Chu,A. Sasaki,K. Ishino,A. Ishida,H. Fujiyasu
[104]. Local elasticity imaging of nano bundle structure of polycarbonate surface using atomic force microscopy
Nanotechnology 8/ 10-15 （2000年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. Matsumoto, A. Sasaki
[105]. Scratching on polystyrene thin film without bumps using atomic force microscopy
J. Vac. Sci. & Technol. B 17/ 2452-2456 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. Matumoto,R. Ogawa,A. Sasaki
[106]. Generation of Forward Phase-Conjugate Beam by Cu:KNSBN-Cat Type Self-Pumped Phase-Conjugator
Jpn. J. Appl. Phys. 38/ 5646-5648 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]M. Doi [共著者]A. Sasaki,F. Iwata,Y. Zheng
[107]. スリット開口の回折パタ-ンによる反射率の測定
光学 28/9 514-518 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]深谷次助 [共著者]佐々木　彰,岩田　太,長坂　学
[108]. Observation of a polystyrene surface modified by ultrasonic scratching using atomic force microscopy
Jpn. J. Appl. Phys. 38/ 3936-3939 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]T. MAtumoto,R. Ogawa,A. Sasaki
[109]. Nanometer-scale photoelectric property of organic thin films investigated by a photoconductive atomic force microscopy
Jpn. J. Appl. Phys 38/ 3908 -3911 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]H. Sakaguchi [共著者]F. Iwata,A. Hirai,A. Sasaki,T. Nagamura
[110]. スリット開口の回折パターンによる反射率の測定
光学 28/9 514-518 （1999年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]深谷　次助 [共著者]佐々木　彰,岩田　太,長坂　学
[111]. Visible-laser ablation on a nanometer scale using urethane-urea copolymers
Opt.Commun 157/ 150-154 （1998年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]C. Egami [共著者]Y. Kawata,Y. Aoshima,F. Iwata,O. Sugihara,M. Tsuchimori,O. Watanabe,N. Okamoto
[112]. In-situ atomic force microscopy combined quartz crystal microbalance study of Ag electro deposition on Pt thin film
Appl. Phys. A 66/ s463-465 （1998年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]K. Saruta,A. Sasaki
[113]. Ultrasonic micromachining on Al thin film using atomic force microscopy combined quartz crystal resonator
Thin Solid Films 302/ 122-126 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Makoto,A. Sasaki
[114]. Nanometer-scale layer removal of aluminum and polystyrene surfaces by ultrasonic scratching
Jpn. J. Appl. Phys. 36/ 3834-3838 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Kawaguchi,A. Sasaki
[115]. Ultrasonic micromachining on Al thin film using atomic force microscopy combined quartz crystal resonator
Thin Solid Films 302/ 122-126 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Kwaguchi,A. Sasaki
[116]. Scanning Tunneling Microscopy Combined Quartz Crystal Microbalance for Study of NH3 Adsorption on Ag Thin Film
Thin Solid Films 299/ 78-82- （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]M. Kawaguchi,A. Sasaki
[117]. A Stable Scanning Tunnneling Microscopy Designed for Investigations of Organic Thin Films in Air
Rev.Sci.Instrum. 68/ 1296-1299 （1997年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]F. Iwata,A. Katsumata,H. Aoyama,T. Akiyama,Y. Fuziyasu
[118]. Shearing Stress on the Surface Topography by Scanning Shearing Stress Microscopy
J. Vac. Sci. & Technol. B 14/ 849-851 （1996年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]F. Iwata [共著者]A. Sasaki,M. Kawaguchi,A. Katsumata,H. Aoyama
[119]. 水晶マイクロバランス法を用いた走査型ずれ応力顕微鏡の開発
精密工学会誌 62/1 150-154 （1996年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 責任著者
[著者] [責任著者]岩田太 [共著者]川口　誠,佐々木　彰,勝又　章,青山　尚之
[120]. Miniature Robot with Micro Capillary Capturing Probe for Surface Clearing Operation　　　　　　　　　　　　　
J. Robotic. Mech. 7/ 488-492 （1995年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]H. Aoyama [共著者]F. Iwata,J. Fukaya,A. Sasaki
[121]. Scanning Shearing-Stress Microscopy of Gold Thin Films　
Jpn. J. Appl. Phys. 33/ 547-L549 （1994年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]A. Katsumata,F. Iwata,H. Aoyama
[122]. Scanning Shearing-Stress Microscope
Appl. Phys. Lett. 64/1 124-125 （1994年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]A. Katsumata,F. Iwata,H. Aoyama
[123]. Scanning Tunneling Microscopy and Barrier-Height Observation of Stearic Acid Thin Films Prepared by Hot-Wall Technique
Jpn. J. Appl. Phys. 32/ .2952-2957 （1993年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]A. Sasaki [共著者]F. Iwata,A. Katsumata,J. Fukaya,H. Aoyama,T. Akiyama,Y. Nakano,H. Fujiyasu
[124]. 高安定STMの製作とナノ加工への応用
精密工学会誌 59/6 987-992 （1993年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]佐々木　彰 [共著者]岩田　太,勝又　章,和波　真吾,深谷　次助,青山　尚之
[125]. 変位補正機能付き走査型トンネル顕微鏡
精密工学会誌 59/1 95-100 （1993年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]佐々木　彰 [共著者]川上　博己,山内　清茂,野崎　明俊,岩田　太,深谷　次助,小坂　明,青山　尚之,久保　高啓
[126]. レ-ザ-ビ-ム偏向による走査型トンネル顕微鏡圧電素子の変位測定
光学 21/2 95-101 （1992年） [査読] 有 [国際共著論文] 該当しない
[責任著者・共著者の別] 共著者
[著者] [責任著者]佐々木　彰 [共著者]山田　浩史,深谷　次助,岩田　太,加藤　久季,青山　尚之,宮尾　正大,村上　健司,石川　賢司,野村　卓志,山口　豪,萩野　實

静岡大学

静岡大学教員データベース - 教員個別情報 : 岩田 太 （IWATA Futoshi）

論文 等

静岡大学教員データベース - 教員個別情報 : 岩田太（IWATA Futoshi）

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